[发明专利]一种半导体多孔晶体薄膜传感器及制备方法有效

专利信息
申请号: 201910687309.5 申请日: 2019-07-29
公开(公告)号: CN110412082B 公开(公告)日: 2022-11-29
发明(设计)人: 黄辉;渠波;赵丹娜;陈顺姬;周佳玲 申请(专利权)人: 黄辉;渠波;赵丹娜
主分类号: G01N27/06 分类号: G01N27/06;G01N27/407
代理公司: 北京金之桥知识产权代理有限公司 11137 代理人: 耿璐璐;朱黎光
地址: 116024 辽宁省大连市*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明涉及一种半导体多孔晶体薄膜传感器及制备方法,包括衬底和设置在衬底上的致密多孔晶体薄膜,所述致密多孔晶体薄膜是由尖锥状凸起交联组成的多孔网格结构,所述尖锥状凸起的侧壁之间构成倒尖锥形状的倒尖锥孔。本申请的致密多孔晶体薄膜是一次性生长而成,具有制备工艺简单、比表面积大、且表面活性高等优势;致密多孔晶体薄膜,是由倒尖锥状的孔构成,有利于待测样品进出小孔、并具有大的比表面积;其孔壁为尖锥状结构,更为结实稳定;选用的氮化物半导体材料属于第三代半导体材料,具有优异的化学稳定性,如耐酸碱腐蚀,更适用于高可靠性的半导体传感器。
搜索关键词: 一种 半导体 多孔 晶体 薄膜 传感器 制备 方法
【主权项】:
1.一种半导体多孔晶体薄膜传感器,其特征在于,包括衬底和设置在衬底上的致密多孔晶体薄膜,所述致密多孔晶体薄膜是由尖锥状凸起交联组成的多孔网格结构,所述尖锥状凸起的侧壁之间构成倒尖锥形状的倒尖锥孔。
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