[发明专利]芯片测试系统在审
| 申请号： | 201910682969.4 | 申请日： | 2019-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN112309487A | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | 蔡振龙;基因·罗森塔尔 | 申请（专利权）人： | 第一检测有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;B07C5/344 |
| 代理公司： | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 傅磊;闫华 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明公开一种芯片测试系统包含：中央控制装置、芯片测试装置、芯片安装设备、多个环境控制设备、分类设备及移载设备。中央控制装置能控制芯片安装设备将多个芯片安装于芯片测试装置。各环境控制设备包含多个彼此独立的容置室，且各容置室中设置有温度调节装置。中央控制装置能控制移载设备，将芯片测试装置，置放于环境控制设备的其中一个容置室中。当芯片测试装置承载有芯片，而被设置于容置室中时，中央控制装置能控制相对应的温度调节装置作动，而使多个芯片处于预定温度下，被芯片测试装置进行预定测试程序。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 系统 | ||
【主权项】：
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