[发明专利]分析材料短程有序结构和长程有序结构的装置和方法有效
| 申请号： | 201910666887.0 | 申请日： | 2019-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN110320220B | 公开（公告）日： | 2020-06-26 |
| 发明（设计）人： | 罗震林;刘志杰 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G01N23/085 | 分类号： | G01N23/085;G01N23/20;G01N23/207;G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 张静 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明技术方案公开了一种分析材料短程有序结构和长程有序结构的装置和方法，通过同步辐射光源出射连续光谱的光束照射位于承载组件上的待测材料样品，可以通过多个能量色散探测器获取第一光信息，基于所述第一光信息可以进行所述待测样品的X射线衍射测试，可以通过位敏探测器获取第二光信息，基于所述第二光信息可以进行所述待测样品的X射线吸收精细结构测试。可见，本发明技术方案可以同时快速分析材料短程有序结构和长程有序结构。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 材料 短程 有序 结构 长程 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种分析材料短程有序结构和长程有序结构的装置，其特征在于，包括：承载组件，所述承载组件用于装载待测材料样品；同步辐射光源，用于出射连续光谱的光束，以照射所述待测材料样品；多个能量色散探测器，所述能量色散探测器的探测轴线与所述光束的照射方向具有不同的角度，所述能量色散探测器用于探测所在位置的第一光信息；所述第一光信息至少用于进行关于所述待测材料样品的能量色散X射线衍射测试；分光汇聚部件，所述分光汇聚部件位于所述光束的照射范围内，用于将所述待测材料样品透过的光束分光后，照射到位敏探测器，所述位敏探测器位于所述分光汇聚部件之后，用于探测所在位置的第二光信息；所述第二光信息用于进行关于所述待测材料样品的能量色散X射线吸收精细结构测试。
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