[发明专利]分析材料短程有序结构和长程有序结构的装置和方法

权利要求书

1.一种分析材料短程有序结构和长程有序结构的装置，其特征在于，包括：

承载组件，所述承载组件用于装载待测材料样品；

同步辐射光源，用于出射连续光谱的光束，以照射所述待测材料样品；

多个能量色散探测器，所述能量色散探测器的探测轴线与所述光束的照射方向具有不同的角度，所述能量色散探测器用于探测所在位置的第一光信息；所述第一光信息至少用于进行关于所述待测材料样品的能量色散X射线衍射测试；

分光汇聚部件，所述分光汇聚部件位于所述光束的照射范围内，用于将所述待测材料样品透过的光束分光后，照射到位敏探测器，所述位敏探测器位于所述分光汇聚部件之后，用于探测所在位置的第二光信息；所述第二光信息用于进行关于所述待测材料样品的能量色散X射线吸收精细结构测试。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述分光汇聚部件包括：弯曲分光晶体。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括：位于所述分光汇聚部件与所述承载组件之间的第一狭缝，所述第一狭缝用于去除散射光。

4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括：位于所述同步辐射光源与所述承载组件之间的第二狭缝，所述第二狭缝用于卡光，获得需要尺寸的入射光束。

5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置具有11个所述能量色散探测器，所述角度范围为16.98°-68.27°，X射线衍射测试的晶面间距范围为

6.根据权利要求1-5任一项所述的装置，其特征在于，还包括：主机，所述主机与所述能量色散探测器以及所述位敏探测器分别连接，用于基于所述第一光信息进行关于所述待测材料样品的能量色散X射线衍射测试，基于所述第二光信息用于进行关于所述待测材料样品的能量色散X射线吸收精细结构测试。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述主机还用于基于所述第一光信息进行关于所述待测材料样品的X射线荧光测试。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述主机进行关于所述待测材料样品的X射线荧光测试方法包括：

绘制至少两个所述能量色散探测器探测的X射线光子能量与强度的曲线图；

基于X射线荧光随探测角度不变化的特性以及所述能量色散探测器的探测结果，获取荧光图谱和衍射图谱。

9.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述同步辐射光源为：波荡器光源、或扭摆器光源、或弯铁光源。

10.一种分析材料短程有序结构和长程有序结构的方法，其特征在于，采用如权利要求1-9任一项所述的装置分析材料短程有序结构和长程有序结构。