[发明专利]工艺级误差对微波系统驻波比影响的测量评估方法及系统

摘要

本发明提供一种工艺级误差对微波系统驻波比影响的测量及评估方法及系统，包括以下步骤：S100，构建样件；S200，测量样件在制造过程中产生的工艺级误差，包括钎透率β1、连接器安装偏差β2、金丝拱高偏差α1和金丝键合距离偏差α2；S300，更换样件，重复上述步骤，得出该样件4个误差源对驻波比的影响。S400，测量评估，首先对误差源进行高斯加权，然后对四个权重归一化，即可得各个误差对驻波比影响的权重分配。与现有技术相比，本发明提供一种测量并评估钎透率偏差、连接器安装偏差和金丝压焊工艺对驻波比影响的方法；对样件的检测快速方便，非侵入式，对样件没有破坏性；对各个误差源进行了高斯加权分配，使这些误差对样件驻波比的影响更加科学客观。

主权项

1.一种工艺级误差对微波系统驻波比影响的测量及评估方法，其特征在于：包括以下步骤：S100，构建样件；S200，测量样件在制造过程中产生的工艺级误差分布区间，具体为：采用3D扫描仪测量样件，记录测试得到的钎透率β₁，获取钎透率分布区间；采用3D扫描仪测量样件连接器，记录测试得到的连接器安装偏差β₂，获取偏差分布区间；采用3D扫描仪测量金丝，记录测试得到的金丝压焊的金丝拱高偏差α₁，获取偏差分布区间；采用3D扫描仪测量金丝，记录测试得到的金丝键合位置距离偏差α₂，获取偏差分布区间；S300，更换样件，重复上述步骤，得出该样件4个误差源对驻波比的影响；S400，测量评估，首先对误差源进行高斯加权，加权过程如下：其中取μ＝0，将所有样件的β₁、β₂、α₁和α₂分别代入上式，可得四个误差的权重分布，然后将四个权重归一化，令则有分别用每个样件的β₁、β₂、α₁和α₂取代x_i即可得各个误差对驻波比影响的权重分配。