[发明专利]一种红外成像器调轴装置及其使用方法在审
| 申请号： | 201910654894.9 | 申请日： | 2019-07-19 |
| 公开（公告）号： | CN110324539A | 公开（公告）日： | 2019-10-11 |
| 发明（设计）人： | 荆树涛;谭华竹;温焱 | 申请（专利权）人： | 北京遥感设备研究所 |
| 主分类号： | H04N5/33 | 分类号： | H04N5/33 |
| 代理公司： | 中国航天科工集团公司专利中心 11024 | 代理人： | 葛鹏 |
| 地址： | 100854*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种红外成像器调轴装置，其包括：红外透射式光学透镜(1)、法兰(2)、J‑T探测器(3)、调轴装置(4)。调轴装置(4)由固定装置(5)、横向螺旋测微仪(6)和纵向螺旋测微仪(7)组成。本装置利用横向螺旋测微仪(6)和纵向螺旋测微仪(7)的精确调整距离，调整光轴微小位移，从而提高红外导引头光轴调试精度，工艺简单，操作方便。本发明解决了现有红外成像器光轴调试过程中的操作难度大，调试精度差、效率低的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 测微仪 轴装置 红外成像器 光轴 横向螺旋 纵向螺旋 调试 红外导引头 红外透射式 调试过程 调整距离 固定装置 光学透镜 微小位移 探测器 法兰 | ||
【主权项】：
1.一种红外成像器调轴装置，其特征在于，其包括：红外透射式光学透镜(1)、法兰(2)、J‑T探测器(3)、调轴装置(4)、固定装置(5)、横向螺旋测微仪(6)、纵向螺旋测微仪(7)；其中，红外透射式光学透镜(1)和J‑T探测器(3)通过法兰(2)固定连接；调轴装置(4)的固定装置(5)和法兰(2)固定连接，调轴装置(4)的横向螺旋测微仪(6)、纵向螺旋测微仪(7)和J‑T探测器(3)接触；红外透射式光学透镜调轴装置(4)的横向螺旋测微仪(6)、纵向螺旋测微仪(7)和J‑T探测器(3)接触；通过光轴测试设备将要调整的位置给予指定，微调横向螺旋测微仪(6)和纵向螺旋测微仪(7)，使得目标点置于指定位置。
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