[发明专利]一种红外成像器调轴装置及其使用方法在审
| 申请号： | 201910654894.9 | 申请日： | 2019-07-19 |
| 公开（公告）号： | CN110324539A | 公开（公告）日： | 2019-10-11 |
| 发明（设计）人： | 荆树涛;谭华竹;温焱 | 申请（专利权）人： | 北京遥感设备研究所 |
| 主分类号： | H04N5/33 | 分类号： | H04N5/33 |
| 代理公司： | 中国航天科工集团公司专利中心 11024 | 代理人： | 葛鹏 |
| 地址： | 100854*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测微仪 轴装置 红外成像器 光轴 横向螺旋 纵向螺旋 调试 红外导引头 红外透射式 调试过程 调整距离 固定装置 光学透镜 微小位移 探测器 法兰 | ||
1.一种红外成像器调轴装置，其特征在于，其包括：红外透射式光学透镜(1)、法兰(2)、J-T探测器(3)、调轴装置(4)、固定装置(5)、横向螺旋测微仪(6)、纵向螺旋测微仪(7)；其中，红外透射式光学透镜(1)和J-T探测器(3)通过法兰(2)固定连接；调轴装置(4)的固定装置(5)和法兰(2)固定连接，调轴装置(4)的横向螺旋测微仪(6)、纵向螺旋测微仪(7)和J-T探测器(3)接触；红外透射式光学透镜调轴装置(4)的横向螺旋测微仪(6)、纵向螺旋测微仪(7)和J-T探测器(3)接触；通过光轴测试设备将要调整的位置给予指定，微调横向螺旋测微仪(6)和纵向螺旋测微仪(7)，使得目标点置于指定位置。
2.根据权利要求1所述的红外成像器调轴装置，其特征在于，所述固定装置(5)的形状为和法兰(2)相对匹配的方形。
3.根据权利要求2所述的红外成像器调轴装置，其特征在于，所述横向螺旋测微仪(6)的形状为圆柱形。
4.根据权利要求3所述的红外成像器调轴装置，其特征在于，所述纵向螺旋测微仪(7)与横向螺旋测微仪(6)的样式相同。
5.根据权利要求1所述的一种红外成像器调轴装置的使用方法，其特征在于，包括：
通过微调横向螺旋测微仪(6)带动J-T探测器(3)横向移动，微调纵向螺旋测微仪(7)带动J-T探测器(3)纵向移动，随着J-T探测器(3)的移动，目标将移动到光轴测试设备指定的位置，实现红外成像器调轴。
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