[发明专利]一种用于飞针测试的探针误差补偿方法有效
| 申请号： | 201910649281.6 | 申请日： | 2019-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN110333471B | 公开（公告）日： | 2021-07-23 |
| 发明（设计）人： | 邵勇锋;黄亮;黄龙;汪兴友;周强;曹璐 | 申请（专利权）人： | 深圳橙子自动化有限公司;华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 赖妙旋 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于飞针测试的探针误差补偿方法，包括如下步骤：获取理论扎点位置，粘贴测试纸片于校准位置，控制测试治具移动至理论扎点位置；控制探针的针尖对测试纸片进行扎点，视觉系统获取实际扎点位置，计算出实际针点位置和理论扎点位置的平面相对位置关系；将万用表连接探针并检测探针的接触阻抗，控制探针的针尖沿Z轴上下移动以对测试治具的标准焊盘扎点并获取探针的运动数据，根据接触阻抗数据与探针的运动数据算出实际针点位置的高度；探针根据平面相对位置关系和实际针点位置的高度进行校准。采用探针在测试电极XY平面和高度进行校准的技术手段，克服探针扎点精度低技术问题，提高了飞针测试时探针扎点测试电极精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 测试 探针 误差 补偿 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于飞针测试的探针误差补偿方法，其特征在于，包括如下步骤：S1、读取光绘文件中的理论扎点位置，粘贴测试纸片于测试治具的校准位置，根据理论扎点位置控制所述测试治具移动至测试位；S2、启动校针子程序控制探针的针尖对所述测试纸片进行扎点得到实际针点位置，视觉系统获取实际扎点位置，计算出实际针点位置和理论扎点位置的平面相对位置关系；S3、启动校针高度子程序，将万用表连接所述探针并检测所述探针的接触阻抗，控制所述探针的针尖沿Z轴上下移动以对所述测试治具的标准焊盘扎点并获取探针的运动数据，根据所述万用表检测的接触阻抗数据与所述探针的运动数据计算出实际针点位置的高度；S4、所述探针根据所述平面相对位置关系和实际针点位置的高度进行校准。
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