[发明专利]一种用于飞针测试的探针误差补偿方法

说明书

本发明公开了一种用于飞针测试的探针误差补偿方法，包括如下步骤：获取理论扎点位置，粘贴测试纸片于校准位置，控制测试治具移动至理论扎点位置；控制探针的针尖对测试纸片进行扎点，视觉系统获取实际扎点位置，计算出实际针点位置和理论扎点位置的平面相对位置关系；将万用表连接探针并检测探针的接触阻抗，控制探针的针尖沿Z轴上下移动以对测试治具的标准焊盘扎点并获取探针的运动数据，根据接触阻抗数据与探针的运动数据算出实际针点位置的高度；探针根据平面相对位置关系和实际针点位置的高度进行校准。采用探针在测试电极XY平面和高度进行校准的技术手段，克服探针扎点精度低技术问题，提高了飞针测试时探针扎点测试电极精度。

技术领域

本发明涉及自动化测试设备的技术领域，尤其是一种用于飞针测试的探针误差补偿方法。

背景技术

飞针测试机是针对测试PCBPCBA的元件布置高密度、层数多、布线密度大、测点距离小的PCBPCBA板(印刷电路板)进行测试的一种仪器，工作时固定测试机的探针接触测试焊盘和通路孔，通过多路传输系统连接到驱动器(信号发生器、电源供应等)和传感器(数字万用表、频率计数器等)来测试PCBA板上的元件。

随着半导体工艺技术的发展，PCBA板上电子元件的密度和元件的复杂性不断增加，而且贴装的元件尺寸不断减小，这就对探针扎点精度的要求越来越高。

现有技术中，由于探针是易损件需要经常更换，而且是往复运动的精密五金件，存在不稳定的运动间隙(0-0.06mm)和安装高度偏差，在理论上，我们可以使用视觉设备来捕捉探针针尖在XY平面和模组的相对位置，从而达到校准探针的目的。但在实际测试验证时，由于针尖倾斜安装，受光源影响，针尖及侧面镀金面反光致成像不稳定，造成视觉系统无法准确获取针尖点相对位置，影响探针扎点精度。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题。为此，本发明的一个目的是提供一种用于飞针测试的探针误差补偿方法，能够减少飞针测试时不稳定的运动间隙和安装高度偏差对精度的影响，以提高探针扎点的精度。

本发明所采用的技术方案是：

本发明提供一种用于飞针测试的探针误差补偿方法，包括如下步骤：

S1、读取光绘文件中的理论扎点位置，粘贴测试纸片于测试治具的校准位置，根据理论扎点位置控制所述测试治具移动至测试位；

S2、启动校针子程序控制探针的针尖对所述测试纸片进行扎点得到实际针点位置，视觉系统获取实际扎点位置，计算出实际针点位置和理论扎点位置的平面相对位置关系；

S3、启动校针高度子程序，将万用表连接所述探针并检测所述探针的接触阻抗，控制所述探针的针尖沿Z轴上下移动以对所述测试治具的标准焊盘扎点并获取探针的运动数据，根据所述万用表检测的接触阻抗数据与所述探针的运动数据计算出实际针点位置的高度；

S4、所述探针根据所述平面相对位置关系和实际针点位置的高度进行校准。

进一步地，所述S2包括如下步骤：

S21、选择需要校准的所述探针并控制所述探针移动至理论扎点位置；

S22、控制所述探针的针尖沿Z轴反方向移动并对所述测试纸片进行扎点，所述探针的针尖对所述测试纸片表面设置的平面坐标图留下的扎痕为实际针点位置；

S23、所述视觉系统获取所述测试纸片上的实际针点位置，计算所述理论扎点位置和所述实际针点位置之间的平面相对位置关系。

进一步地，所述S3包括如下步骤：

S31、选择需要校准高度的探针并控制所述探针移动至设定的第二校准位，所述万用表分别与所述第二校准位和所述探针连接；