[发明专利]一种自动上下样系统在审
申请号: | 201910641314.2 | 申请日: | 2019-07-16 |
公开(公告)号: | CN110346388A | 公开(公告)日: | 2019-10-18 |
发明(设计)人: | 洪春霞;边风刚;周平;缪夏然 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海应用物理研究所 |
主分类号: | G01N23/20008 | 分类号: | G01N23/20008;G01N23/02;B25J9/16 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人: | 余永莉 |
地址: | 201800 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种自动上下样系统,包括:系统底座;分别独立安装于系统底座上的机械手、取样台以及五维样品台;该五维样品台包括:沿竖直方向叠置的X向调节机构、Z向调节机构、掠入射角Pitch调节机构、滚转角Roll调节机构以及摆角Yaw调节机构;系统还包括:放置于取样台上的若干样品托盘;以及样品托盘安装座,其上开有一竖直贯穿的通孔,所述通孔通过管道与压缩空气装置连接;其中,机械手可自动进行样品托盘在取样台与样品托盘安装座之间的上样换样工作,通过五维样品台的自动调节使X射线照射到待测样品上,自动化完成多个样品的检测。根据本发明,提供了一种自动化程度高的、提高实验效率的、降低设备损害率的自动上下样系统。 | ||
搜索关键词: | 样品托盘 样品台 五维 机械手 系统底座 安装座 取样台 竖直 通孔 自动化 压缩空气装置 待测样品 独立安装 降低设备 掠入射角 实验效率 滚转角 摆角 叠置 取样 上样 贯穿 检测 损害 | ||
【主权项】:
1.一种自动上下样系统,其特征在于,包括:系统底座;分别独立安装于所述系统底座上的机械手、取样台以及五维样品台;其中,所述五维样品台包括:沿竖直方向叠置的X向调节机构、Z向调节机构、掠入射角Pitch调节机构、滚转角Roll调节机构以及摆角Yaw调节机构;所述自动上下样系统还包括:放置于取样台上的若干样品托盘;以及安装于所述五维样品台上方的样品托盘安装座,所述样品托盘安装座上开有一竖直贯穿的通孔,所述通孔通过管道与一压缩空气装置连接;其中,所述机械手可自动进行装有待测样品的样品托盘在取样台与样品托盘安装座之间的上样和换样工作,通过所述五维样品台的自动调节使X射线照射到待测样品上,自动化完成多个样品的检测。
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