[发明专利]一种自动上下样系统在审
申请号: | 201910641314.2 | 申请日: | 2019-07-16 |
公开(公告)号: | CN110346388A | 公开(公告)日: | 2019-10-18 |
发明(设计)人: | 洪春霞;边风刚;周平;缪夏然 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海应用物理研究所 |
主分类号: | G01N23/20008 | 分类号: | G01N23/20008;G01N23/02;B25J9/16 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人: | 余永莉 |
地址: | 201800 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 样品托盘 样品台 五维 机械手 系统底座 安装座 取样台 竖直 通孔 自动化 压缩空气装置 待测样品 独立安装 降低设备 掠入射角 实验效率 滚转角 摆角 叠置 取样 上样 贯穿 检测 损害 | ||
1.一种自动上下样系统,其特征在于,包括:系统底座;分别独立安装于所述系统底座上的机械手、取样台以及五维样品台;其中,所述五维样品台包括:沿竖直方向叠置的X向调节机构、Z向调节机构、掠入射角Pitch调节机构、滚转角Roll调节机构以及摆角Yaw调节机构;所述自动上下样系统还包括:
放置于取样台上的若干样品托盘;以及
安装于所述五维样品台上方的样品托盘安装座,所述样品托盘安装座上开有一竖直贯穿的通孔,所述通孔通过管道与一压缩空气装置连接;
其中,所述机械手可自动进行装有待测样品的样品托盘在取样台与样品托盘安装座之间的上样和换样工作,通过所述五维样品台的自动调节使X射线照射到待测样品上,自动化完成多个样品的检测。
2.根据权利要求1所述的自动上下样系统,其特征在于,所述机械手的后端通过机械手安装底座安装于所述系统底座上,所述机械手的前端连接双指气动手爪。
3.根据权利要求1所述的自动上下样系统,其特征在于,所述五维样品台通过五维样品台安装底座安装于所述系统底座上。
4.根据权利要求1所述的自动上下样系统,其特征在于,所述X向调节机构、Z向调节机构、掠入射角Pitch调节机构、滚转角Roll调节机构以及摆角Yaw调节机构通过紧固件自下而上依次连接设置。
5.根据权利要求1所述的自动上下样系统,其特征在于,所述样品托盘具有大致长条形结构,所述样品托盘在长度方向的相对两端具有供机械手抓取的卡槽,所述样品托盘的上表面的中部具有用于放置待测样品的样品槽。
6.根据权利要求5所述的自动上下样系统,其特征在于,所述取样台上设有自上表面向下凹陷的若干托盘放置槽,当所述样品托盘放置在该托盘放置槽中时,所述样品托盘的样品槽的边缘突出于所述取样台的上表面所在的平面。
7.根据权利要求6所述的自动上下样系统,其特征在于,所述样品托盘安装座上开设有与所述样品托盘的长条形轮廓一致的凹槽,所述通孔开设于所述凹槽的底面上。
8.根据权利要求1所述的自动上下样系统,其特征在于,所述机械手是五轴关节机械手。
9.根据权利要求1所述的自动上下样系统,其特征在于,所述五维样品台通过电机控制器和驱动器控制。
10.根据权利要求1所述的自动上下样系统,其特征在于,所述系统底座通过紧固件安装于实验站的实验平台上。
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