[发明专利]有机发光二极管器件寿命测试系统和方法、光线测量装置有效
| 申请号： | 201910634379.4 | 申请日： | 2019-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN110244212B | 公开（公告）日： | 2021-11-19 |
| 发明（设计）人： | 李灏;张久杰;董晴晴;梁洁 | 申请（专利权）人： | 云谷（固安）科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 彭琼 |
| 地址： | 065500 河*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明公开一种有机发光二极管器件寿命测试系统和方法、光线测量装置。有机发光二极管器件寿命测试系统包括：导光组件，包括多个导光单元，各导光单元用于将对应的待测有机发光二极管器件的出射光导出；光线测量器，多个导光单元选择性连接至光线测量器，光线测量器用于测试连接至自身的导光单元的导出光线的绝对亮度；寿命分析仪，根据各导光单元的导出光线的绝对亮度得到各待测有机发光二极管器件的亮度变化曲线，以分析待测有机发光二极管器件的寿命。采用本发明实施例能够提高OLED器件寿命测试设备的测试准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 有机 发光二极管 器件 寿命 测试 系统 方法 光线 测量 装置 | ||
【主权项】：
1.一种有机发光二极管器件寿命测试系统，其特征在于，包括：导光组件，包括多个导光单元，各所述导光单元用于将对应的待测有机发光二极管器件的出射光导出；光线测量器，所述多个导光单元选择性连接至所述光线测量器，所述光线测量器用于测试连接至自身的所述导光单元的导出光线的绝对亮度；寿命分析仪，根据各所述导光单元的导出光线的绝对亮度得到各所述待测有机发光二极管器件的亮度变化曲线，以分析所述待测有机发光二极管器件的寿命。
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