[发明专利]有机发光二极管器件寿命测试系统和方法、光线测量装置

权利要求书

1.一种有机发光二极管器件寿命测试系统，其特征在于，包括：

导光组件，包括多个导光单元，各所述导光单元用于将对应的待测有机发光二极管器件的出射光导出，所述导光单元为光纤；

光线测量器，所述多个导光单元选择性连接至所述光线测量器，所述光线测量器用于测试连接至自身的所述导光单元的导出光线的绝对亮度，其中，在开始寿命测试之前，所述光线测量器输出的绝对亮度与寿命测试要求的初始亮度的偏差在预设范围内；

寿命分析仪，根据各所述导光单元的导出光线的绝对亮度得到各所述待测有机发光二极管器件的亮度变化曲线，以分析所述待测有机发光二极管器件的寿命；

光纤信号放大器，用于将所述光纤的导出光线进行信号放大，以补偿所述待测有机发光二极管器件的发射光在所述光纤中发生的衰减量。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，进一步包括多路控制选用阀，用于将所述多个导光单元选择性连接至所述光线测量器。

3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，

所述多路控制选用阀具有多个入口和一个出口，其中，所述多个入口与所述多个导光单元一一对应连接，所述出口与所述光线测量器连接；

或者，

所述多路控制选用阀具有多个子阀，每个子阀具有一个入口和一个出口，其中，所述入口与一个导光单元连接，所述出口与所述光线测量器连接。

4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，进一步包括亮度校准模块，用于对所述光线测量器测得的所述导光单元的导出光线的绝对亮度进行亮度校准。

5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述光线测量器还用于测试连接至自身的所述导光单元的导出光线的色坐标。

6.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，进一步包括箱体，所述箱体具有多个密闭腔室，各所述密闭腔室与对应的导光单元连通，并将对应的待测有机发光二极管器件的出射光与相邻腔室隔离。

7.一种有机发光二极管器件光线测试装置，其特征在于，包括：

导光组件，包括多个导光单元，各所述导光单元用于将对应的待测有机发光二极管器件的出射光导出，所述导光单元为光纤；

光线测量器，所述多个导光单元选择性连接至所述光线测量器，所述光线测量器用于测试连接至自身的所述导光单元的导出光线的绝对亮度，其中，在开始寿命测试之前，所述光线测量器输出的绝对亮度与寿命测试要求的初始亮度的偏差在预设范围内；

光纤信号放大器，用于将所述光纤的导出光线进行信号放大，以补偿所述待测有机发光二极管器件的发射光在所述光纤中发生的衰减量。

8.一种有机发光二极管器件寿命测试方法，其特征在于，用于如权利要求1-6任意一项所述的有机发光二极管器件寿命测试系统，所述方法包括：

利用各所述导光单元将对应的待测有机发光二极管器件的出射光导出；

由所述光线测量器测试连接至自身的所述导光单元的导出光线的绝对亮度；

若所述绝对亮度与寿命测试要求的初始亮度的偏差超出预设偏差允许范围，则调整对应的待测有机发光二极管器件的驱动参数，直到所述绝对亮度与寿命测试要求的初始亮度的偏差处于所述预设偏差允许范围；

保持调整后的驱动参数不变，根据各所述导光单元的导出光线的绝对亮度得到各所述待测有机发光二极管器件的亮度变化曲线，以分析所述待测有机发光二极管器件的寿命。