[发明专利]光伏电池分拣的深度学习识别与控制方法及装置在审
申请号: | 201910632273.0 | 申请日: | 2019-07-13 |
公开(公告)号: | CN110473806A | 公开(公告)日: | 2019-11-19 |
发明(设计)人: | 陈海永;王霜;刘聪 | 申请(专利权)人: | 河北工业大学;天津爱普杰科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;B07C5/34 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 300401 天津*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明提供的光伏电池视觉分拣的深度学习识别与控制方法,将基于深度学习的缺陷分类和检测方法与工业制造过程一体化,具有较高的智能性。本装置用深度学习来代替传统学习方法,具有较强的特征提取能力,尤其对于当背景干扰严重,传统方法难以识别出缺陷时。此外深度学习识别与控制装置能自动进行缺陷特征提取,提高处理速度,降低人工依赖性。 | ||
搜索关键词: | 学习 工业制造过程 缺陷特征提取 背景干扰 传统学习 光伏电池 控制装置 缺陷分类 特征提取 智能性 分拣 视觉 一体化 检测 | ||
【主权项】:
1.一种光伏电池视觉分拣的深度学习识别与控制方法,其特征在于,该方法包括:以下步骤:/nS1:图像采集/nS1-1采集图像/nS1-2判定采集到的图像是否超过500张,如果超过继续下面步骤,如果没超过,则再次进入到S1-1步骤中;/nS1-3停止采集图像,将采集到的图像保存至相应的缺陷文件夹,按训练集与验证集进行人工分选与标签制作;/nS2:深度学校训练/nS2-1加载预训练模型;/nS2-2对Faster R-CNN模型参数进行初始化,初始化参数内容包括所有的权重值、偏置值、批量归一化尺度因子值,设置网络的初始学习率;/nS2-3将所述步骤S1-3得到的训练集和验证集根据其标签内容输入到S2-2初始化的模型中进行训练,得到表面缺陷深度学习模型;/nS3:深度学习执行/nS3-1实时采集测试图像;/nS3-2调用所述步骤S2-3得到的表面缺陷深度学习模型,对所述步骤S3-1的图片进行测试;/nS3-3得到实时检测结果:包括缺陷类别以及定位缺陷的精确位置及其置信度;/nS4:机器人分拣/nS4-1将所述步骤S3-3得到的实时检测结果反馈给机器人,由机器人执行分拣。/n
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造