[发明专利]一种高分子材料的表征装置在审
| 申请号： | 201910631080.3 | 申请日： | 2019-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN110186767A | 公开（公告）日： | 2019-08-30 |
| 发明（设计）人： | 李良彬;杨二杰;李立夫;陈威;解春;张孟楠 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G01N3/08 | 分类号： | G01N3/08;G01N3/06;G01N3/04;G01N21/01;G01N21/84 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 李赫 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种高分子材料的表征装置，包括：机体；控制器；设置在所述机体上，用于输送高分子薄膜的输送机构；设置在所述机体上，并通过与所述控制器配合对被输送的所述高分子薄膜进行光学性能检测的光学检测机构；设置在所述机体上，能够对被输送的所述高分子薄膜进行裁切的裁切机构；设置在所述机体上，并通过与所述控制器配合对裁切得到的薄膜样品进行力学性能检测的力学检测机构。上述的表征装置，不仅实现了对高分子薄膜的高通量表征，而且还实现了对高分子薄膜多项性能的表征，能够显著的提升新材料的研发效率。 | ||
| 搜索关键词： | 高分子薄膜 表征装置 控制器 高分子材料 裁切 光学检测机构 光学性能检测 力学性能检测 薄膜样品 裁切机构 输送机构 高通量 研发 力学 配合 申请 | ||
【主权项】：
1.一种高分子材料的表征装置，其特征在于，包括：机体；控制器；设置在所述机体上，用于输送高分子薄膜的输送机构；设置在所述机体上，并通过与所述控制器配合对被输送的所述高分子薄膜进行光学性能检测的光学检测机构；设置在所述机体上，能够对被输送的所述高分子薄膜进行裁切的裁切机构；设置在所述机体上，并通过与所述控制器配合对裁切得到的薄膜样品进行力学性能检测的力学检测机构。
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