[发明专利]一种高分子材料的表征装置

权利要求书

1.一种高分子材料的表征装置，其特征在于，包括：

机体；

控制器；

设置在所述机体上，用于输送高分子薄膜的输送机构；

设置在所述机体上，并通过与所述控制器配合对被输送的所述高分子薄膜进行光学性能检测的光学检测机构；

设置在所述机体上，能够对被输送的所述高分子薄膜进行裁切的裁切机构；

设置在所述机体上，并通过与所述控制器配合对裁切得到的薄膜样品进行力学性能检测的力学检测机构。

2.根据权利要求1所述的高分子材料的表征装置，其特征在于，所述机体包括框架和设置在所述框架内的平台，所述输送机构、所述光学检测机构、所述裁切机构和所述力学检测机构设置在所述平台上。

3.根据权利要求2所述的高分子材料的表征装置，其特征在于，所述输送机构包括：

设置在所述平台上，并用于将所述高分子薄膜导向至所述平台之上的自由辊；

设置在所述平台上，并与所述自由辊平行且对正设置的多个变向辊，多个所述变向辊通过配合将所述高分子薄膜导向至所述平台之下；

设置在所述平台的底部，用于卷绕导向至所述平台之下的所述高分子薄膜的收卷辊。

4.根据权利要求3所述的高分子材料的表征装置，其特征在于，还包括连接在所述收卷辊上，并用于检测所述收卷辊扭矩的扭矩传感器，所述扭矩传感器与所述控制器通信连接。

5.根据权利要求2所述的高分子材料的表征装置，其特征在于，所述光学检测机构包括：

设置在所述平台上，并位于所述平台顶部的白光光源，所述高分子薄膜从所述白光光源和所述平台之间穿过；

设置在所述平台底部的第一积分球，所述第一积分球能够接收穿过所述高分子薄膜的所述白光光源发出的光，且所述第一积分球与所述控制器通信连接；

设置在所述第一积分球上的导光管，所述导光管允许穿过所述高分子薄膜的直通光进入；

设置在所述平台的底部，并能够接收所述直通光的第二积分球，所述第二积分球与所述控制器通信连接。

6.根据权利要求5所述的高分子材料的表征装置，其特征在于，还包括设置在所述高分子薄膜的顶部，以使所述白光光源发出的光平行出射的光纤准直器，并且所述光纤准直器与所述导光管对正设置。

7.根据权利要求2所述的高分子材料的表征装置，其特征在于，所述裁切机构包括：

设置在所述平台上的第一支架；

固定设置在所述第一支架上的第一导轨；

滑动的连接在所述第一导轨上的裁刀，所述裁刀通过在所述第一导轨上滑动能够相对于所述平台进行升降；

固定设置在所述平台上，并能够与所述裁刀对接的凹模，所述高分子薄膜从所述裁刀和所述凹模之间穿过，并在所述裁刀和所述凹模对接时被裁切。

8.根据权利要求7所述的高分子材料的表征装置，其特征在于，所述裁刀上开设有凹槽，所述凹槽内设置有能够吸附所述薄膜样品的吸盘。

9.根据权利要求7所述的高分子材料的表征装置，其特征在于，所述力学检测机构包括：

设置在所述平台上的第二导轨；

滑动的设置在所述第二导轨上的第三导轨，所述第三导轨通过在所述第二导轨上滑动，能够靠近和远离所述第一支架；

滑动的设置在所述第三导轨上，并分别夹紧所述薄膜样品两端的多个夹具，多个所述夹具通过向相反方向滑动，能够实现对所述薄膜样品的拉伸；

设置在所述第三导轨上，并用于检测所述薄膜样品所承受的拉力大小的拉力传感器，所述拉力传感器与所述控制器通信连接；

设置在所述第一支架的顶端，并用于拍摄所述薄膜样品被拉伸程度的摄像头，所述摄像头与所述控制器通信连接。

10.根据权利要求9所述的高分子材料的表征装置，其特征在于，所述夹具为分别夹紧所述薄膜样品两端的两个，且两个所述夹具的结构相同，所述夹具包括：

滑动设置在所述第三导轨上的第二支架；

设置在所述第二支架顶端的气缸；

连接在所述气缸的活塞上的上夹片，所述上夹片在所述活塞的带动下能够相对于所述平台进行升降；

设置在所述第二支架底端的下夹片，所述上夹片能够压紧所述下夹片以实现对所述薄膜样品的夹紧，并且所述下夹片上开设有吸气孔，通过所述吸气孔的吸气能够将所述薄膜样品吸附在所述下夹片上。