[发明专利]用于PIC管芯的探测器及相关测试组件和方法在审
| 申请号： | 201910620258.4 | 申请日： | 2019-07-10 |
| 公开（公告）号： | CN110824332A | 公开（公告）日： | 2020-02-21 |
| 发明（设计）人： | 王业;丁汉屹;T·M·普拉特 | 申请（专利权）人： | 格芯公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 贺月娇;杨晓光 |
| 地址： | 开曼群岛*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于PIC管芯的探测器及相关测试组件和方法。本公开的实施例提供了一种针对光子集成电路(PIC)管芯的电气和光子测试而构造的探测器，该探测器包括：具有第一表面和相反的第二表面并且包括导电迹线的膜，该膜被配置为电耦合到探测器接口板(PIB)；被定位在该膜上的一组探测器尖端，该组探测器尖端被配置为向PIC管芯发送电气测试信号或从PIC管芯接收电气测试信号；以及光子测试组件，其被设置在该膜上并且被电耦合到该膜的导电迹线，该光子测试组件被定位成与PIC管芯的光子I/O元件基本对准，其中光子测试组件被配置为向光子I/O元件发射光子输入信号或检测来自光子I/O元件的光子输出信号。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 pic 管芯 探测器 相关 测试 组件 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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