[发明专利]一种弯晶谱仪测量受振动影响的消除方法及弯晶谱仪装置在审
| 申请号： | 201910617593.9 | 申请日： | 2019-07-10 |
| 公开（公告）号： | CN110361406A | 公开（公告）日： | 2019-10-22 |
| 发明（设计）人： | 严伟;王铎钦;陈忠勇 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01N23/207 | 分类号： | G01N23/207 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 曹葆青;李智 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种弯晶谱仪测量受振动影响的消除方法及弯晶谱仪装置，弯晶谱仪包括位于同一水平高度且依次连接的入射臂、波纹管、晶体腔体、出射臂和探测器，通过谐振安装的方式安装弯晶谱仪，具体为：将入射臂固定于设置于地面上的第一支撑架上；将晶体腔体、出射臂和探测器分别固定于设置于地面上且与地面减振隔离的减振平台上。本发明通过谐振安装来消除托卡马克装置运行振动对弯晶谱仪测量影响，具体通过将晶体腔体、出射臂和探测器腔体以一体化形式安装在加固的减振平台上，既减少弯晶谱仪振动振幅，又可避免晶体腔体和探测器间发生相对振动，保证了探测器像素点探测的是多普勒平移效应，提高了测量精度和可靠性，且结构简单。 | ||
| 搜索关键词： | 晶谱仪 晶体腔 探测器 出射臂 谐振 减振平台 振动影响 测量 入射臂 托卡马克装置 探测器像素 多普勒 平移 测量影响 同一水平 相对振动 依次连接 振动振幅 波纹管 支撑架 减振 腔体 探测 隔离 一体化 保证 | ||
【主权项】：
1.一种弯晶谱仪测量受振动影响的消除方法，所述弯晶谱仪包括位于同一水平高度且依次连接的入射臂、波纹管、晶体腔体、出射臂和探测器，其特征在于，通过谐振安装的方式安装所述弯晶谱仪，具体为：将所述入射臂固定于第一支撑架上，其中，所述第一支撑架设置于地面上；将所述晶体腔体、所述出射臂和所述探测器分别固定于减振平台上，其中，所述减振平台设置于地面上且与地面减振隔离。
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