[发明专利]一种矢量光束偏振态检测方法有效
| 申请号： | 201910595744.5 | 申请日： | 2019-07-03 |
| 公开（公告）号： | CN110207826B | 公开（公告）日： | 2021-04-20 |
| 发明（设计）人： | 李华贵;高峰;刘旭东;李晶 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第五十四研究所 |
| 主分类号： | G01J4/00 | 分类号： | G01J4/00 |
| 代理公司： | 河北东尚律师事务所 13124 | 代理人： | 王文庆 |
| 地址： | 050081 河北省石家庄市中山西路5*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种矢量光束偏振态检测方法，属于偏振光偏振态检测技术领域。本发明在矢量光束同一方位不同位置放置不同的四分之一波片和偏振片的组合，进而实现对入射光束不同的偏振调制；利用坐标变换将同一方位下的测量结果作为一组进行求解，得到该方位下的光束偏振态；利用矢量光束偏振态分布的规律性可以求得整个光束的偏振分布。本发明利用四组波片和偏振片组合，只需一次测量便可得到矢量光束偏振态，更适合于高速或实时测量系统。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 矢量 光束 偏振 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种矢量光束偏振态检测方法，其特征在于，包括以下步骤：利用光束整形系统对待测矢量光束进行光束调整，使得待测矢量光束的大小与强度探测器的孔径相适应；将四组偏振器件组合放置在矢量光束同一方位上的不同径向位置处，实现对同一方位下矢量光束的不同的偏振变换；每组偏振器件组合均包括一个偏振片和一个1/4波片；利用强度探测器对经过偏振变换后的矢量光束进行探测，记录不同像素位置的强度值；将同一方位下各像素位置的强度值作为一组数据，利用坐标变换对该组数据进行偏振求解，得到测量区域内矢量光束的偏振态分布；根据矢量光束偏振态分布的周期性，得到整个矢量光束的偏振态分布。
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