[发明专利]一种矢量光束偏振态检测方法有效
| 申请号： | 201910595744.5 | 申请日： | 2019-07-03 |
| 公开（公告）号： | CN110207826B | 公开（公告）日： | 2021-04-20 |
| 发明（设计）人： | 李华贵;高峰;刘旭东;李晶 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第五十四研究所 |
| 主分类号： | G01J4/00 | 分类号： | G01J4/00 |
| 代理公司： | 河北东尚律师事务所 13124 | 代理人： | 王文庆 |
| 地址： | 050081 河北省石家庄市中山西路5*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 矢量 光束 偏振 检测 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种矢量光束偏振态检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
利用光束整形系统对待测矢量光束进行光束调整，使得待测矢量光束的大小与强度探测器的孔径相适应；
将四组偏振器件组合放置在矢量光束同一方位上的不同径向位置处，实现对同一方位下矢量光束的不同的偏振变换；每组偏振器件组合均包括一个偏振片和一个1/4波片；四组偏振器件组合的偏振控制矩阵是满秩矩阵；
利用强度探测器对经过偏振变换后的矢量光束进行探测，记录不同像素位置的强度值；
将同一方位下各像素位置的强度值作为一组数据，利用坐标变换对该组数据进行偏振求解，得到测量区域内矢量光束的偏振态分布；
根据矢量光束偏振态分布的周期性，得到整个矢量光束的偏振态分布。
2.根据权利要求1所述的矢量光束偏振态检测方法，其特征在于，所述光束整形系统为4F整形系统。
3.根据权利要求1所述的矢量光束偏振态检测方法，其特征在于，所述强度探测器为CCD。
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