[发明专利]一种基于四阶谱矩的位场边界识别方法

摘要

本发明公开了一种基于四阶谱矩的位场边界识别方法，首先通过滑动窗口计算出位场每一个数据点的四阶谱矩元，然后根据本发明定义的四阶曲率弧刻痕系数公式计算其特征提取结果，最后由该系数的高值指示出场源的边界位置。本发明提出的基于四阶谱矩的位场边界识别方法，是一种适用于提取弧形边界的方法，克服了常规传统方法和表面二阶谱矩不能有效识别弧形边界的缺陷。重磁异常的仿真试验结果表明，本发明提出的基于四阶谱矩的位场边界识别方法能够均衡收敛地识别弧形边界，且对深度的敏感性较低，可用于提取位场中的弱曲率弧刻痕信号。

主权项

1.一种基于四阶谱矩的位场边界识别方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：在x、y方向上分别以间隔Δx、Δy等间距采样，采样点数分别为M和N，得到研究区域的位场异常数据矩阵A；步骤2：采用滑动窗口圈定窗口中心点及其邻近数据点的异常值，计算窗口面元的四阶谱矩，将结果定位于面元中心点；步骤3：逐点移动滑动窗口，得到矩阵A上每个数据点对应的四阶谱矩元m₄₀、m₃₁、m₂₂、m₁₃、m₀₄的值；步骤4：根据矩阵A中每一个数据点处四阶谱矩元的值计算该点处统计不变量M₄、Δ₄的值：M₄＝m₄₀+2m₂₂+m₀₄步骤5：计算矩阵A中每一个数据点处的四阶曲率弧刻痕系数值：得到矩阵B，即为四阶曲率弧刻痕系数对位场数据的提取结果，其高值指示场源的边界位置。