[发明专利]一种基于四阶谱矩的位场边界识别方法有效
| 申请号: | 201910579203.3 | 申请日: | 2019-06-28 |
| 公开(公告)号: | CN110414060B | 公开(公告)日: | 2023-01-03 |
| 发明(设计)人: | 李燕梅;付丽华;曾诚 | 申请(专利权)人: | 中国地质大学(武汉) |
| 主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;G01V11/00 |
| 代理公司: | 武汉知产时代知识产权代理有限公司 42238 | 代理人: | 龚春来 |
| 地址: | 430000 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 四阶谱矩 边界 识别 方法 | ||
1.一种基于四阶谱矩的位场边界识别方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1:在x、y方向上分别以间隔Δx、Δy等间距采样,采样点数分别为M和N,得到研究区域的位场异常数据矩阵A;
步骤2:采用滑动窗口圈定窗口中心点及其邻近数据点的异常值,计算窗口面元的四阶谱矩,将结果定位于面元中心点;
步骤3:逐点移动滑动窗口,得到矩阵A上每个数据点对应的四阶谱矩元m40、m31、m22、m13、m04的值;
步骤4:根据矩阵A中每一个数据点处四阶谱矩元的值计算该点处统计不变量M4、Δ4的值:
M4=m40+2m22+m04
步骤5:计算矩阵A中每一个数据点处的四阶曲率弧刻痕系数值:
得到矩阵B,即为四阶曲率弧刻痕系数对位场数据的提取结果,其高值指示场源的边界位置。
2.根据权利要求1所述的基于四阶谱矩的位场边界识别方法,其特征在于:步骤1中,对研究区域的位场异常进行测量,在x、y方向上分别以间隔Δx、Δy等间距采样,采样点数分别为M和N,得到N×M的位场异常数据矩阵A;选取尺寸为N1×M1的滑动窗口,沿x方向包含M1个数据点,沿y方向包含N1个数据点,M1、N1均为奇数。
3.根据权利要求1所述的基于四阶谱矩的位场边界识别方法,其特征在于:步骤2中,将N×M的矩阵A的列向外延拓(M1-1)/2列,行向外延拓(N1-1)/2行,得到大小为[N+(N1-1)]×[M+(M1-1)]的新矩阵对矩阵中每个数据点求二阶导数,得到在矩阵中,选定延拓前第一行第一列的数据点作为滑动窗口的中心点,利用窗口圈定窗口中心点及其邻近数据点的异常值,形成大小为N1×M1的局部面元,通过如下公式计算其四阶谱矩元的值:
其中,zxx(xi,yk)、zxy(xi,yk)、zyy(xi,yk)分别为数据点(xi,yk)处位场异常的二阶导数;将上述各谱矩元的值赋给窗口中心的数据点。
4.根据权利要求2所述的基于四阶谱矩的位场边界识别方法,其特征在于:步骤3中,在矩阵中,按延拓前的数据点逐点移动滑动窗口,计算出每一个数据点处m40、m31、m22、m13、m04的值。
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