[发明专利]一种基于高品质因数全介质超表面的折射率传感器及应用有效
| 申请号： | 201910573743.0 | 申请日： | 2019-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN110361361B | 公开（公告）日： | 2021-05-25 |
| 发明（设计）人： | 李强;田静逸;吕俊;仇旻 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41;G01N21/17 |
| 代理公司： | 杭州之江专利事务所(普通合伙) 33216 | 代理人： | 牛世静 |
| 地址： | 310027 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于高品质因数全介质超表面的折射率传感器，包括透明衬底以及呈周期性阵列分布于透明衬底表面的超表面结构，该超表面结构采用全介质材料，为亚波长厚度。本发明无金属结构，无欧姆损耗，无生物毒性，不会影响待测对象活性。且利用超表面结构，作用区域短，有望实现高速响应。此外，本发明基于介质材料，例如半导体材料，有利于未来实现CMOS集成。不仅如此，设计理论可以推广至其他波段，例如太赫兹波段，利用高折射率、低损耗的介质超表面结构进行不同工作波段的折射率或生物分子指纹探测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 品质因数 介质 表面 折射率 传感器 应用 | ||
【主权项】：
1.一种基于高品质因数全介质超表面的折射率传感器，其特征在于，包括透明衬底以及呈周期性阵列分布于透明衬底表面的超表面结构，该超表面结构采用全介质材料，为亚波长厚度。
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