[发明专利]检测深度学习芯片的方法、装置、电子设备和计算机存储介质在审
| 申请号： | 201910559182.9 | 申请日： | 2019-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN112148536A | 公开（公告）日： | 2020-12-29 |
| 发明（设计）人： | 王勇 | 申请（专利权）人： | 北京百度网讯科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 赵林琳;张昊 |
| 地址： | 100094 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开的实施例涉及一种检测深度学习芯片的方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质。该方法包括对深度学习芯片中的多个逻辑单元进行检测，多个逻辑单元用于执行深度学习的推理操作和训练操作中的至少一种操作。该方法还包括获取多个逻辑单元中未通过检测的错误单元。此外，该方法还可以包括响应于错误单元的个数占多个逻辑单元的总数的比率低于或等于预定比率，将深度学习芯片确定为合格芯片。本公开的技术方案通过利用了深度学习芯片中包含多个相同或重复的逻辑单元的特性，使得芯片利用率显著提高。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 深度 学习 芯片 方法 装置 电子设备 计算机 存储 介质 | ||
【主权项】：
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