[发明专利]检测深度学习芯片的方法、装置、电子设备和计算机存储介质

权利要求书

1.一种用于检测深度学习芯片的方法，包括：

对所述深度学习芯片中的多个逻辑单元进行检测，所述多个逻辑单元用于执行深度学习的推理操作和训练操作中的至少一种操作；

获取所述多个逻辑单元中未通过检测的错误单元；以及

响应于所述错误单元的个数占所述多个逻辑单元的总数的比率低于或等于预定比率，将所述深度学习芯片确定为合格芯片。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述多个逻辑单元包括用于执行所述推理操作的多个推理逻辑单元，并且其中将所述深度学习芯片确定为所述合格芯片包括：

将所述错误单元的信息记录在所述深度学习芯片的存储单元中，以便在所述深度学习芯片被用于执行所述推理操作时禁用所述错误单元。

3.根据权利要求1所述的方法，其中所述多个逻辑单元包括用于执行所述训练操作的多个训练逻辑单元，并且其中将所述深度学习芯片确定为所述合格芯片包括：

将所述错误单元的信息记录在所述深度学习芯片的存储单元中，以便在所述深度学习芯片被用于执行所述训练操作时禁用所述错误单元。

4.根据权利要求1所述的方法，其中所述多个逻辑单元包括用于执行所述推理操作的多个推理逻辑单元和用于执行所述训练操作的多个训练逻辑单元，所述方法还包括：

响应于所述多个推理逻辑单元中存在所述错误单元，将所述深度学习芯片设置为仅用于执行深度学习的所述训练操作；或者

响应于所述多个训练逻辑单元中存在所述错误单元，将所述深度学习芯片设置为仅用于执行深度学习的所述推理操作。

5.根据权利要求4所述的方法，还包括：

响应于所述多个训练逻辑单元中不存在所述错误单元，将所述深度学习芯片设置为用于执行深度学习的所述推理操作和所述训练操作中的至少一种操作。

6.根据权利要求1所述的方法，还包括：

响应于所述错误单元的个数占所述多个逻辑单元的总数的比率高于所述预定比率，将所述深度学习芯片确定为故障芯片。

7.根据权利要求2或4所述的方法，其中所述存储单元是片上电可编程熔丝，并且所述多个推理逻辑单元包括以下至少一项：

人工智能协处理单元SDCDNN；以及

人工智能处理器XPU。

8.一种用于检测深度学习芯片的装置，包括：

逻辑单元检测模块，被配置为对所述深度学习芯片中的多个逻辑单元进行检测，所述多个逻辑单元用于执行深度学习的推理操作和训练操作中的至少一种操作；

错误单元获取模块，被配置为获取所述多个逻辑单元中未通过检测的错误单元；以及

合格芯片确定模块，被配置为响应于所述错误单元的个数占所述多个逻辑单元的总数的比率低于或等于预定比率，将所述深度学习芯片确定为合格芯片。

9.根据权利要求8所述的装置，其中所述多个逻辑单元包括用于执行所述推理操作的多个推理逻辑单元，并且其中所述合格芯片确定模块包括：

第一信息记录模块，被配置为将所述错误单元的信息记录在所述深度学习芯片的存储单元中，以便在所述深度学习芯片被用于执行所述推理操作时禁用所述错误单元。

10.根据权利要求8所述的装置，其中所述多个逻辑单元包括用于执行所述训练操作的多个训练逻辑单元，并且其中所述合格芯片确定模块包括：

第二信息记录模块，被配置为将所述错误单元的信息记录在所述深度学习芯片的存储单元中，以便在所述深度学习芯片被用于执行所述训练操作时禁用所述错误单元。