[发明专利]一种底部发射型VCSEL芯片及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201910527624.1 申请日: 2019-06-18
公开(公告)号: CN110265872A 公开(公告)日: 2019-09-20
发明(设计)人: 窦志珍;曹广亮;刘留;苏小平;韩春霞;林新茗 申请(专利权)人: 威科赛乐微电子股份有限公司
主分类号: H01S5/183 分类号: H01S5/183;H01S5/187
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 李欧
地址: 404040 重庆*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明涉及激光芯片技术领域,尤其涉及一种底部发射型VCSEL芯片及其制造方法,VCSEL芯片包括GaAs衬底和位于GaAs衬底一侧的外延结构,GaAs衬底底部蚀刻出出光孔,GaAs衬底上于出光孔外围蒸镀有N‑contact层,外延结构包括N‑DBR结构、氧化层、量子阱、P‑DBR结构和欧姆接触层,欧姆接触层、P‑DBR结构、量子阱和AlGaAs被蚀刻至N‑DBR结构上表面形成台面,欧姆接触层与出光孔位置相对应,欧姆接触层上生长有ODR层,ODR层上蒸镀有镜面层,台面向上至镜面层上覆盖有SiNx层,SiNx层在镜面层上于出光孔对应位置蚀刻有接触孔,SiNx层上包覆有P‑contact层,P‑contact层填充接触孔。本发明的VCSEL芯片的结构设计不影响光致发光测试,提高了测试效率,减少了后续废品率,减少了原材料的浪费。
搜索关键词: 欧姆接触层 衬底 蚀刻 出光孔 镜面层 底部发射型 外延结构 量子阱 台面 蒸镀 填充接触孔 测试效率 光致发光 激光芯片 接触孔 上表面 氧化层 包覆 光孔 制造 外围 测试 生长 覆盖
【主权项】:
1.一种底部发射型VCSEL芯片,其特征在于,包括GaAs衬底和位于GaAs衬底一侧的外延结构,所述GaAs衬底底部蚀刻有出光孔,所述GaAs衬底上于出光孔外围蒸镀有N‑contact层,所述外延结构包括由下至上依次沉积的N‑DBR结构、氧化层、量子阱、P‑DBR结构和欧姆接触层,所述欧姆接触层、P‑DBR结构、量子阱和氧化层被蚀刻至N‑DBR结构上表面形成台面,所述欧姆接触层与出光孔位置相对应,且所述欧姆接触层的大小尺寸与出光孔的相同,所述欧姆接触层上生长有ODR层,所述ODR层上蒸镀有镜面层,所述台面向上至镜面层上覆盖有SiNx层,所述SiNx层在镜面层上于出光孔对应位置蚀刻有接触孔,所述SiNx层上包覆有P‑contact层,所述P‑contact层填充所述接触孔。
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