[发明专利]一种智能设备老化测试的方法与设备有效
| 申请号： | 201910503216.2 | 申请日： | 2019-06-11 |
| 公开（公告）号： | CN110286281B | 公开（公告）日： | 2021-11-02 |
| 发明（设计）人： | 邱永伟;孟旭;杜军红;汤肖迅 | 申请（专利权）人： | 上海龙旗科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 上海百一领御专利代理事务所(普通合伙) 31243 | 代理人： | 王奎宇;甘章乖 |
| 地址： | 200233 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请的目的是提供一种智能设备老化测试的方法与设备，其中，所述方法包括：获取用户对测试模式的确认指令，根据所述测试模式的确认指令确定使用的测试模式，其中，所述使用的测试模式包括开发者模式和非开发者模式；根据所述使用的测试模式确定所述智能设备的目标测试项，对所述智能设备的目标测试项进行测试；记录并存储测试过程中的数据信息，根据所述数据信息统计并显示测试结果，其中，所述数据信息包括测试失败发生原因以及测试失败发生时间，统计测试成功轮数和测试失败轮数。从而在智能设备的功能稳定性测试以及老化测试中自定义适配不同配置的智能设备，相较现有技术，能够在更短的时间内覆盖所有需要测试的项目并达到足够的测试压力。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 智能 设备 老化 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种智能设备老化测试的方法，其中，所述方法包括：获取用户对测试模式的确认指令，根据所述测试模式的确认指令确定使用的测试模式，其中，所述使用的测试模式包括开发者模式和非开发者模式；根据所述使用的测试模式确定所述智能设备的目标测试项，对所述智能设备的目标测试项进行测试；记录并存储测试过程中的数据信息，根据所述数据信息统计并显示测试结果，其中，所述数据信息包括测试失败发生原因以及测试失败发生时间，统计测试成功轮数和测试失败轮数。
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