[发明专利]一种智能设备老化测试的方法与设备有效

专利信息
申请号: 201910503216.2 申请日: 2019-06-11
公开(公告)号: CN110286281B 公开(公告)日: 2021-11-02
发明(设计)人: 邱永伟;孟旭;杜军红;汤肖迅 申请(专利权)人: 上海龙旗科技股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 上海百一领御专利代理事务所(普通合伙) 31243 代理人: 王奎宇;甘章乖
地址: 200233 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 智能 设备 老化 测试 方法
【说明书】:

本申请的目的是提供一种智能设备老化测试的方法与设备,其中,所述方法包括:获取用户对测试模式的确认指令,根据所述测试模式的确认指令确定使用的测试模式,其中,所述使用的测试模式包括开发者模式和非开发者模式;根据所述使用的测试模式确定所述智能设备的目标测试项,对所述智能设备的目标测试项进行测试;记录并存储测试过程中的数据信息,根据所述数据信息统计并显示测试结果,其中,所述数据信息包括测试失败发生原因以及测试失败发生时间,统计测试成功轮数和测试失败轮数。从而在智能设备的功能稳定性测试以及老化测试中自定义适配不同配置的智能设备,相较现有技术,能够在更短的时间内覆盖所有需要测试的项目并达到足够的测试压力。

技术领域

本申请涉及计算机领域,尤其涉及一种智能设备老化测试的方法与设备。

背景技术

智能设备在生产过程中对器件进行老化测试以及功能稳定性测试是非常重要的步骤,对智能设备的质量监控有着非常重要的实用意义。在现有技术中,智能设备的功能稳定性测试以及老化测试通常采用固定测试项目、固定测试顺序进行测试,并且测试时间是不可调整的,这样的测试方案在应用到不同智能设备系统进行测试时需要针对每一个系统进行单独设计测试过程,费时费力。

发明内容

本申请的一个目的是提供一种智能设备老化测试的方法与设备,解决现有技术中智能设备的功能稳定性测试以及老化测试采用固定测试项目、固定测试顺序进行测试,并且测试时间不可调整的问题。

为解决上述技术问题,根据本申请的一个方面,提供了一种智能设备老化测试的方法,其中,所述方法包括:

获取用户对测试模式的确认指令,根据所述测试模式的确认指令确定使用的测试模式,其中,所述使用的测试模式包括开发者模式和非开发者模式;

根据所述使用的测试模式确定所述智能设备的目标测试项,对所述智能设备的目标测试项进行测试;

记录并存储测试过程中的数据信息,根据所述数据信息统计并显示测试结果,其中,所述数据信息包括测试失败发生原因以及测试失败发生时间,统计测试成功轮数和测试失败轮数。

进一步地,所述使用的测试模式为开发者模式时,根据所述使用的测试模式确定所述智能设备的目标测试项包括:

通过所述智能设备老化测试软件的设置界面获取用户预设所述测试的测试项目以及测试轮数,以用户预设所述测试的测试项目作为目标测试项。

进一步地,对所述智能设备的目标测试项进行测试,包括:

获取用户确认测试开始的指令,根据所述确认测试开始指令初始化测试项队列,其中,所述测试项队列由所述目标测试项确定;

使用所述智能设备老化测试程序对所述测试项队列进行测试,完成对所述测试项队列的测试后统计并显示所述测试项队列的测试结果;

所述测试程序停止并恢复初始状态。

进一步地,所述使用的测试模式为非开发者模式时,根据所述使用的测试模式确定所述智能设备的目标测试项包括:

解析所述智能设备的XML格式配置文件以获取所述智能设备的配置信息;

根据所述配置信息初始化测试项以及测试轮数,初始化后的测试项作为目标测试项。

进一步地,对所述智能设备的目标测试项进行测试,包括:

获取用户对所述测试的时间规格的确认指令,其中,所述时间规格为所述测试程序储存的多项预设时间规格;

获取用户确认测试开始的指令,根据所述确认测试开始指令初始化测试项队列,其中,所述测试项队列由所述目标测试项确定;

使用所述智能设备老化测试程序对所述测试项队列进行测试,完成对所述测试项队列的测试后统计并显示所述测试项队列的测试结果;

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