[发明专利]一种全波段超低反射表面膜层厚度计算方法

摘要

本发明公开了一种全波段超低反射表面膜层厚度计算方法，用于计算物质表面超低反射膜层的最佳厚度。本发明得到最佳超低反射表面膜层厚度dmin，相邻物质折射率n1、n2以及入射光实现超低反射的最大波长λmax的对应关系，即该超低反射膜层厚度理论计算方法适用于气‑固、液‑固、固‑固等界面全波段超低反射膜层厚度的计算，可以与实验结果完美对应，对于确定物质表面超低反射膜层厚度具有重要指导意义。

主权项

1.一种全波段超低反射表面膜层厚度计算方法，其特征是，当物质表面超低反射膜的折射率在介质1和介质2之间连续变化时，介质1和介质2之间实现太阳光超低反射的最佳超低反射表面膜层厚度d_min为：其中，λ_max为入射光实现超低反射的最大波长，n₁和n₂分别是入射光穿过相邻物质介质1和介质2的折射率。