[发明专利]一种全波段超低反射表面膜层厚度计算方法

权利要求书

1.一种全波段超低反射表面膜层厚度计算方法，其特征是，

通过不同界面之间的减反射膜层对应的麦克斯韦方程，将光的反射系数计算公式与不同物质的介电常数ε和磁导率μ常数联系在一起，并将光从介质1进入介质2的阻抗Z(x)公式应用到界面减反射膜层，得到最佳超低反射表面膜层厚度d_min与相邻物质折射率n₁、n₂的对应关系；

当物质表面超低反射膜的折射率在介质1和介质2之间连续变化时，介质1和介质2之间实现太阳光超低反射的最佳超低反射表面膜层厚度d_min为：

其中，λ_max为入射光实现超低反射的最大波长，n₁和n₂分别是入射光穿过相邻物质介质1和介质2的折射率；

其中，介质1是气体、液体或者非金属固体，介质2是气体、液体或者非金属固体；当介质改变时，n₁与n₂取值不同。

2.一种全波段超低反射表面膜层厚度计算方法，其特征是，

通过不同界面之间的减反射膜层对应的麦克斯韦方程，将光的反射系数计算公式与不同物质的介电常数ε和磁导率μ常数联系在一起，并将光从介质1进入介质2的阻抗Z(x)公式应用到界面减反射膜层，得到超低反射表面膜层厚度d与相邻物质折射率n₁、n₂的对应关系；

当物质表面超低反射膜的折射率在介质1和介质2之间连续变化时，介质1和介质2之间实现太阳光超低反射的超低反射表面膜层厚度d为：

其中，λ_max为入射光实现超低反射的最大波长，n₁和n₂分别是入射光穿过相邻物质介质1和介质2的折射率；

其中，介质1是气体、液体或者非金属固体，介质2是气体、液体或者非金属固体；当介质改变时，n₁与n₂取值不同。