[发明专利]用于获取纹理操作的采样位置的方法和装置有效
| 申请号： | 201910456799.8 | 申请日： | 2019-05-29 |
| 公开（公告）号： | CN110675480B | 公开（公告）日： | 2023-07-04 |
| 发明（设计）人： | 尤里·乌拉尔斯基;H·P·莫尔顿;埃里克·布雷恩·卢姆;乔纳森·J·迪奈斯卡;史蒂文·詹姆斯·海因里希;斯特凡诺·佩斯卡多尔;瑟利斯·加德雷;米夏埃尔·艾伦·费特曼 | 申请（专利权）人： | 辉达公司 |
| 主分类号： | G06T15/04 | 分类号： | G06T15/04 |
| 代理公司： | 北京市磐华律师事务所 11336 | 代理人： | 高伟;娄晓丹 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明公开了用于获取纹理操作的采样位置的方法和装置，具体地公开了用于报告纹理占用空间信息的方法和装置。纹理占用空间标识将用于渲染场景中的像素的纹理的部分。所公开的方法和装置通过首先标识给定纹理映射中的哪些纹理像素在随后渲染场景时需要，从而有利地提高了解耦的着色系统的系统效率。因此，所生成和存储的纹理像素的数量可以减少，以包括被标识的纹理像素。没有被标识的纹理像素不需要被渲染和/或存储。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 获取 纹理 操作 采样 位置 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于报告纹理占用空间的方法，包括：/n从着色器程序接收包括纹理映射坐标的纹理占用空间查询请求，其中所述纹理占用空间查询请求与光栅化的几何形状所覆盖的屏幕空间中的像素相关联；/n标识包括用于纹理映射过滤操作的纹理占用空间的纹理像素，其对应于所述纹理占用空间查询请求；以及/n向所述着色器程序发送包括所述纹理占用空间的查询结果信息，/n其中所述发送包括将所述查询结果信息存储在所述着色器程序可访问的存储器电路中。/n
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