[发明专利]一种柔性芯片拾取方法与拾取设备在审
申请号: | 201910456215.7 | 申请日: | 2019-05-29 |
公开(公告)号: | CN110176418A | 公开(公告)日: | 2019-08-27 |
发明(设计)人: | 滕乙超;魏瑀;刘东亮 | 申请(专利权)人: | 浙江荷清柔性电子技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/683;H01L21/687 |
代理公司: | 上海波拓知识产权代理有限公司 31264 | 代理人: | 周志中 |
地址: | 310000 浙江省杭州市经济技术开发*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种柔性芯片拾取方法,实现从超薄柔性晶圆拾取柔性芯片。包括:提供热剥离膜,通过粘合剂层将热剥离膜粘贴于超薄柔性晶圆背,切割分离各柔性芯片,加热热剥离膜,使所述粘合剂层失去粘性,使用顶针顶起柔性芯片从热剥离膜上分离,拾取柔性芯片。一种柔性芯片拾取设备,用于从超薄柔性晶圆拾取柔性芯片,包括用于放置超薄柔性晶圆的拾取台、用于顶起柔性芯片的顶针、用于拾取柔性芯片的取片装置,顶针上部具有平台。本发明避免了在拾取过程中柔性芯片因受力不均极易发生碎片、无法剥离等问题,提高了制造柔性芯片的良率。 | ||
搜索关键词: | 柔性芯片 拾取 超薄柔性 热剥离膜 晶圆 顶针 拾取设备 粘合剂层 切割分离 取片装置 受力不均 良率 加热 粘贴 剥离 制造 | ||
【主权项】:
1.一种柔性芯片拾取方法,用于拾取设备从柔性晶圆拾取柔性芯片,其特征在于,所述拾取设备包括用于顶起所述柔性芯片的顶针、用于拾取所述柔性芯片的取片装置;所述拾取方法包括:切割所述柔性晶圆分离成多个所述柔性芯片,其中,所述柔性晶圆背面粘贴有剥离膜,切割后多个所述柔性芯片粘贴在所述剥离膜上;对所述剥离膜进行改性处理,使所述剥离膜失去粘性;使用所述顶针顶起所述柔性芯片,将所述柔性芯片边缘从所述剥离膜上分离;使用所述取片装置拾取所述柔性芯片。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造