[发明专利]基于层次聚类的二次曲面基元提取方法、系统、装置有效
申请号: | 201910452685.6 | 申请日: | 2019-05-28 |
公开(公告)号: | CN110223378B | 公开(公告)日: | 2021-06-22 |
发明(设计)人: | 严冬明;杨小龙;贾晓红;张晓鹏 | 申请(专利权)人: | 中国科学院自动化研究所 |
主分类号: | G06T17/00 | 分类号: | G06T17/00 |
代理公司: | 北京市恒有知识产权代理事务所(普通合伙) 11576 | 代理人: | 郭文浩;尹文会 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明属于计算机图形处理领域,具体涉及一种基于层次聚类的二次曲面基元提取方法、系统、装置,旨在解决简单二次曲面基元检测不适定的问题。本系统方法包括获取三维模型的三角网格,将每个三角形作为一个聚类区域,得到聚类区域集合;分别将两两边相邻的聚类区域作为一个有序对,分别计算各有序对的拟合代价;选取拟合代价最小的一组有序对,将对相应的聚类区域进行拟合,作为新的聚类区域更新聚类区域集合;基于新的聚类区域集合,根据预设的迭代次数迭代计算各聚类区域的拟合代价并拟合,获取各类型聚类区域的拟合结果;基于得到拟合结果提取二次曲面基元。本发明提供一种高效的二次曲面基元检测的方法,提取了高品质的简单二次曲面基元。 | ||
搜索关键词: | 基于 层次 二次曲面 提取 方法 系统 装置 | ||
【主权项】:
1.一种基于层次聚类的二次曲面基元提取方法,其特征在于,该方法包括:步骤S10,获取三维模型的三角网格,将每个三角形作为一个聚类区域,得到聚类区域集合;步骤S20,分别将两两边相邻的聚类区域作为一个有序对,分别计算各有序对的拟合代价;所述拟合代价基于拟合逼近误差、边界约束误差获取;步骤S30,选取拟合代价最小的一组有序对,将该有序对相应的聚类区域进行拟合,作为新的聚类区域更新聚类区域集合;步骤S40,基于新的聚类区域集合,迭代执行步骤S20、步骤S30直至达到预设的迭代次数,获取各类型聚类区域的拟合结果;步骤S50,基于步骤S40得到拟合结果提取二次曲面基元。
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