[发明专利]一种面向光场图像的深度估计方法有效

专利信息
申请号: 201910401869.X 申请日: 2019-05-15
公开(公告)号: CN110120071B 公开(公告)日: 2023-03-24
发明(设计)人: 韩磊;徐梦溪;黄陈蓉;郑胜男;吴晓彬;夏明亮 申请(专利权)人: 南京工程学院
主分类号: G06T7/557 分类号: G06T7/557
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 王安琪
地址: 211167 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种面向光场图像的深度估计方法,包括如下步骤:解码光场图像得到4D光场数据、中心子孔径图像;由4D光场数据生成焦点堆栈图像序列;对中心子孔径图像上的每个像素,绘制聚焦曲线;检测聚焦曲线的局部对称中心,得视差图D1;由4D光场数据生成每个像素对应的水平方向、垂直方向的EPI图像;检测EPI图像上直线的斜率,得到视差图D2;基于中心子孔径图像和两个视差图,对每个像素绘制两种聚焦曲线片段;计算两种聚焦曲线片段与聚焦曲线的匹配度,由匹配度确定最终视差图D;执行基于能量最小化的深度优化。本发明的深度估计结果具有较高准确度,对室外噪声场景、复杂遮挡场景等具有较强鲁棒性。
搜索关键词: 一种 面向 图像 深度 估计 方法
【主权项】:
1.一种面向光场图像的深度估计方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)根据光场相机参数信息,将光场原始图像解码为4D光场数据,并提取中心子孔径图像其中(iC,jC)表示中心子孔径图像的视角坐标;(2)由步骤(1)得到的4D光场数据,以视差Δd为步长,计算生成焦点堆栈图像序列其中,n表示深度估计设定的视差标签数,根据光场相机的视差范围参数[dmin,dmax],求得(3)对中心子孔径图像上的每个位置坐标(k*,l*)处的像素p,以视差(γ·Δd,γ∈{1,2,…,n})为横坐标,该视差对应的重聚焦图像上(k*,l*)处像素的灰度值为纵坐标,绘制像素p对应的聚焦曲线φp(γ·Δd);(4)对中心子孔径图像上的每个位置坐标(k*,l*)处的像素p,检测步骤(3)得到的聚焦曲线(φp(γ·Δd))的局部对称性,取最优局部对称中心的横坐标值作为像素p对应的视差估计值(D1p),针对每个像素执行此处理后,得到视差图D1;(5)对中心子孔径图像上的每个位置坐标(k*,l*)处的像素p,由步骤(1)得到的4D光场数据,分别计算生成关于p的水平、垂直方向的EPI图像(6)对中心子孔径图像上的每个位置坐标(k*,l*)处的像素p,在步骤(5)得到的EPI图像上分别检测对应直线的斜率sH、sv,由此得到两个视差值,求两者均值作为p的估计视差D2p;对每个像素进行估计视差处理后得到视差图D2;(7)对中心子孔径图像上的每个位置(k*,l*)处的像素p,由和D1绘制聚焦曲线片段再由和D2绘制聚焦曲线片段其中D1p、D2p分别表示视差图D1、D2上p点对应位置处的视差,记号[(a):(b):(c)]表示在a到c范围内以b为步长生成的等差数列;(8)对中心子孔径图像上的每个位置坐标(k*,l*)处的像素p,在集合上计算聚焦曲线片段与聚焦曲线φp(γ·Δd)的匹配度同样,在集合上计算聚焦曲线片段与聚焦曲线φp(γ·Δd)的匹配度则p对应的最终深度Dp赋值为D1p,否则,Dp赋值为D2p;求得每个像素的视差后,得到最终视差图D。
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