[发明专利]一种低功耗小型化单粒子瞬态参数测试装置及方法

摘要

本发明公开一种低功耗小型化单粒子瞬态参数测试装置及方法，该装置包括单粒子瞬态脉冲靶电路模块，用于按照不同辐照条件产生具有不同参数的单粒子瞬态脉冲；压控振荡器，用于根据单粒子瞬态脉冲靶电路模块产生的不同脉冲输出不同频率的波形；测试模块，用于检测压控振荡器的输出波形，输出给波形分析计算模块；波形分析计算模块，用于接收压控振荡器的输出波形进行分析，并根据输出波形的波动状态计算出单粒子瞬态参数输出。本发明具有结构简单紧凑、占地面积小、功耗低、测试精度高且能够测试脉冲幅度等优点。

主权项

1.一种低功耗小型化单粒子瞬态参数测试装置，其特征在于，包括：单粒子瞬态脉冲靶电路模块组(1)，用于按照不同辐照条件产生具有不同参数的单粒子瞬态脉冲；压控振荡器(2)，用于根据所述单粒子瞬态脉冲靶电路模块组(1)产生的不同脉冲输出不同频率的波形；测试模块(3)，用于检测所述压控振荡器(2)的输出波形，输出给波形分析计算模块(4)；波形分析计算模块(4)，用于接收所述压控振荡器(2)的输出波形进行分析，并根据所述输出波形的波动状态计算出所述单粒子瞬态脉冲的参数输出。