[发明专利]一种低功耗小型化单粒子瞬态参数测试装置及方法

权利要求书

1.一种低功耗小型化单粒子瞬态参数测试装置，其特征在于，包括：

单粒子瞬态脉冲靶电路模块组(1)，用于按照不同辐照条件产生具有不同参数的单粒子瞬态脉冲；

压控振荡器(2)，用于根据所述单粒子瞬态脉冲靶电路模块组(1)产生的不同脉冲输出不同频率的波形；

测试模块(3)，用于检测所述压控振荡器(2)的输出波形，输出给波形分析计算模块(4)；

波形分析计算模块(4)，用于接收所述压控振荡器(2)的输出波形进行分析，并根据所述输出波形的波动状态计算出所述单粒子瞬态脉冲的参数输出；

所述波形分析计算模块(4)包括幅度计算单元以及脉宽计算单元，所述幅度计算单元根据所述压控振荡器(2)的输出波形的频率波动状态计算出所述单粒子瞬态脉冲的幅度，所述脉宽计算单元根据所述压控振荡器(2)恢复正常状态的恢复时间计算出所述单粒子瞬态脉冲的脉宽。

2.根据权利要求1所述的低功耗小型化单粒子瞬态参数测试装置，其特征在于：所述单粒子瞬态脉冲靶电路模块组(1)在非辐照条件下输出稳定的指定电压值，在辐照条件下根据不同的辐照条件产生具有不同脉宽和幅值的单粒子瞬态脉冲。

3.根据权利要求2所述的低功耗小型化单粒子瞬态参数测试装置，其特征在于：所述单粒子瞬态脉冲靶电路模块组(1)包括多个用于产生不同类型脉冲的靶电路，每个所述靶电路中设置有不同宽长比的NMOS管和/或PMOS管，各所述靶电路通过开关控制接入。

4.根据权利要求1或2或3所述的低功耗小型化单粒子瞬态参数测试装置，其特征在于：所述压控振荡器(2)为在指定辐照指标下不发生单粒子效应的加固型压控振荡器。

5.根据权利要求1或2或3所述的低功耗小型化单粒子瞬态参数测试装置，其特征在于：所述测试模块(3)在非辐照条件下检测并记录所述压控振荡器(2)正常的输出频率，在辐照条件下检测并记录所述压控振荡器(2)输出波形发生变化时刻的波形，以及记录所述压控振荡器(2)恢复正常时的工作频率。

6.根据权利要求5所述的低功耗小型化单粒子瞬态参数测试装置，其特征在于：所述测试模块(3)为具有频率波动探测功能的示波器。

7.一种单粒子瞬态参数测试方法，其特征在于，步骤包括：

S1.按照不同辐照条件产生具有不同参数的单粒子瞬态脉冲；

S2.通过压控振荡器(2)根据产生的不同脉冲输出不同频率的波形；

S3.检测所述压控振荡器(2)的输出波形并输出；

S4.接收所述压控振荡器(2)的输出波形进行分析，并根据所述压控振荡器(2)的输出波形的波动状态计算出所述单粒子瞬态脉冲的参数输出；

所述步骤S4根据所述压控振荡器(2)的输出波形的频率波动状态计算出所述单粒子瞬态脉冲的幅度，根据所述压控振荡器(2)恢复正常状态的恢复时间计算出所述单粒子瞬态脉冲的脉宽。

8.根据权利要求7所述的单粒子瞬态参数测试方法，其特征在于，所述步骤S1中，在非辐照条件下输出稳定的指定电压值，在辐照条件下根据不同的辐照条件产生具有不同脉宽和幅值的单粒子瞬态脉冲；所述步骤S3中，在非辐照条件下检测并记录所述压控振荡器(2)正常的输出频率，在辐照条件下检测并记录所述压控振荡器(2)输出波形发生变化时刻的波形，以及记录所述压控振荡器(2)恢复正常时的工作频率。

9.根据权利要求7或8所述的单粒子瞬态参数测试方法，其特征在于，所述步骤S4中，根据所述压控振荡器(2)的输出波形的频率波动状态计算出所述单粒子瞬态脉冲的幅度，以及根据所述输出波形恢复正常状态的恢复时间计算出所述单粒子瞬态脉冲的脉宽。