[发明专利]一种替代法光纤损耗特性实验测试系统及方法

摘要

本发明属于替代法光纤损耗特性测试系统及方法的教学实验仪器技术领域，公开了一种用替代法测量光纤损耗特性的测量系统及方法。设置有光源模块、光纤信道、异或逻辑光纤长度测量模块、光功率指示器和双踪数字示波器。光源模块：有四种波长(630、860、1310和1550nm)的出光口；光纤长度测量模块：有调制信号源、调制信号电光/光电转换及再生电路、异或逻辑及双斜式模数转换电路；光功率指示模块：对于630、860nm波长，用SPD光电探头，对于1310和1550nm波长，用PIN光电探头。相对于现有技术，本发明具有设备简单、操作方便等优点，非常适合参与实验学生人数多的教学需求。

主权项

1.一种光纤损耗特性实验测试系统，其特征在于，所述光纤损耗特性实验测试系统包括：光源模块，配有630nm、860nm、1310nm和1550nm四种波长的半导体电光器件，有各自的出光口；630nm红光光源由红光笔提供；1550nm波长半导体激光器的驱动电路与异或逻辑光纤长度测量模块共用；光纤信道模块，长度为200m和1200m的多模光纤两盘，二次紧套、带FC插头和连接器；光纤长度测量模块，具有调制信号源、调制信号电光/光电转换及再生电路、异或逻辑光纤长度传感器及双斜式模数转换电路；光功率指示模块，对于630nm和860nm波长，用SPD光电二极管作光电探头，指示范围0‑200微瓦；对于1310nm和1550nm波长，用PIN光电二极管作光电探头，指示范围0‑2000微瓦。