[发明专利]一种替代法光纤损耗特性实验测试系统及方法

权利要求书

1.一种光纤损耗特性实验测试系统，其特征在于，所述光纤损耗特性实验测试系统包括：

光源模块，配有630nm、860nm、1310nm和1550nm四种波长的半导体电光器件，有各自的出光口；630nm红光光源由红光笔提供；1550nm波长半导体激光器的驱动电路与异或逻辑光纤长度测量模块共用；

光纤信道模块，长度为200m和1200m的多模光纤两盘，二次紧套、带FC插头和连接器；

光纤长度测量模块，具有调制信号源、调制信号电光/光电转换及再生电路、异或逻辑光纤长度传感器及双斜式模数转换电路；

光功率指示模块，对于630nm和860nm波长，用SPD光电二极管作光电探头，指示范围0-200微瓦；对于1310nm和1550nm波长，用PIN光电二极管作光电探头，指示范围0-2000微瓦。

2.如权利要求1所述的光纤损耗特性实验测试系统，其特征在于，所述光纤长度测量模块调制信号是周期为32微妙、占空比50％的方波信号，对光源器件发光强度进行调制，用光纤跳线和光纤活动连接器把光信号耦合到光纤信道一端；光信号经历一定时间传输到光纤信道另一端，用光电二极管对光信号进行光电转换和再生调节后，获得一个占空比为50％再生电信号；把与发送端光信号同步的参考电信号和接收端的再生电信号接到异或逻辑光纤长度传感器的两个输入端；异或逻辑电路的输出端接7107双斜式模数转换电路V in+脚；7107模数转换电路V in-脚接零点调节电位器活动端，7107模数转换电路V ref+脚接校准调节电位器活动端。

3.一种基于权利要求1所述光纤损耗特性实验测试系统的光纤损耗特性实验测试方法，其特征在于，所述光纤损耗特性实验测试方法包括：

第一步，连接测量系统，用异或逻辑光纤长度测量仪测量提供的两盘光纤信道的长度；

第二步，把长度为L的长光纤信道接入测量系统；调节LD电流到20mA，读取光功率显示器数字，并记为p_L；在保持LD电流不变情况下，用长度为L_O的短光纤信道代替长光纤信道接入；读取光功率显示器数字，并记为p_Lo；

第三步，用不同波长的光源器件接入测量系统，重复以上操作；

第四步，根据以上测量数据就可计算出四种波长的光纤损耗系数。