[发明专利]测试接口板、测试系统以及操作测试接口板的方法在审
| 申请号： | 201910352691.4 | 申请日： | 2019-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN110596567A | 公开（公告）日： | 2019-12-20 |
| 发明（设计）人： | 朱成晧;金圭烈;李在英;曹昌铉 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 11286 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王凯霞;王兆赓 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 公开了一种测试接口板、测试系统以及操作测试接口板的方法。测试接口板包括一个或多个中继电路和同步信号生成器。中继电路复制来自自动测试设备(ATE)的测试信号，通过相应的通道中的一个通道将复制的测试信号施加到多个被测试装置(DUT)中的每个DUT，并且响应复制的测试信号，向ATE提供从多个DUT中的每个DUT接收的多个测试结果信号。同步信号生成器从多个DUT中的每个DUT接收多个状态信号并将时序同步信号提供给ATE。所述多个状态信号中的每个状态信号指示多个DUT中的一个DUT中的测试操作的完成，测试操作与测试信号相关联，并且当所有的多个状态信号指示测试操作的完成时，同步信号生成器激活时序同步信号。 | ||
| 搜索关键词： | 测试信号 同步信号生成器 测试操作 状态信号指示 测试接口板 时序同步 中继电路 状态信号 复制 测试结果信号 自动测试设备 被测试装置 操作测试 测试系统 信号提供 接口板 完成时 激活 施加 关联 响应 | ||
【主权项】：
1.一种测试接口板，包括：/n一个或多个中继电路，被配置为复制来自自动测试设备的测试信号，被配置为将多个复制的测试信号分别施加到多个被测试装置，并且被配置为响应所述多个复制的测试信号，向自动测试设备提供从所述多个被测试装置接收的多个测试结果信号；/n同步信号生成器，被配置为从所述多个被测试装置接收多个状态信号，并被配置为将时序同步信号提供给自动测试设备，/n其中，所述多个状态信号中的每个状态信号指示所述多个被测试装置中的一个被测试装置中的测试操作的完成，/n测试操作与测试信号相关联，/n同步信号生成器还被配置为：当所有的所述多个状态信号指示测试操作的完成时激活时序同步信号。/n
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