[发明专利]测试接口板、测试系统以及操作测试接口板的方法在审

专利信息
申请号: 201910352691.4 申请日: 2019-04-29
公开(公告)号: CN110596567A 公开(公告)日: 2019-12-20
发明(设计)人: 朱成晧;金圭烈;李在英;曹昌铉 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 11286 北京铭硕知识产权代理有限公司 代理人: 王凯霞;王兆赓
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 测试信号 同步信号生成器 测试操作 状态信号指示 测试接口板 时序同步 中继电路 状态信号 复制 测试结果信号 自动测试设备 被测试装置 操作测试 测试系统 信号提供 接口板 完成时 激活 施加 关联 响应
【权利要求书】:

1.一种测试接口板,包括:

一个或多个中继电路,被配置为复制来自自动测试设备的测试信号,被配置为将多个复制的测试信号分别施加到多个被测试装置,并且被配置为响应所述多个复制的测试信号,向自动测试设备提供从所述多个被测试装置接收的多个测试结果信号;

同步信号生成器,被配置为从所述多个被测试装置接收多个状态信号,并被配置为将时序同步信号提供给自动测试设备,

其中,所述多个状态信号中的每个状态信号指示所述多个被测试装置中的一个被测试装置中的测试操作的完成,

测试操作与测试信号相关联,

同步信号生成器还被配置为:当所有的所述多个状态信号指示测试操作的完成时激活时序同步信号。

2.根据权利要求1所述的测试接口板,其中,同步信号生成器包括:与门,被配置为接收所述多个状态信号,对所述多个状态信号执行与运算,并输出时序同步信号。

3.根据权利要求1所述的测试接口板,其中,同步信号生成器包括:现场可编程门阵列元件,被配置为接收所述多个状态信号并输出在所述多个状态信号中的每个状态信号具有第一逻辑电平时激活的时序同步信号。

4.根据权利要求3所述的测试接口板,其中,现场可编程门阵列元件是基于所述多个被测试装置的数量可编程的。

5.根据权利要求1所述的测试接口板,其中,所述一个或多个中继电路中的每个中继电路连接到所述多个被测试装置中的相应的被测试装置的组,

其中,所述一个或多个中继电路中的每个中继电路包括:

缓冲器,被配置为:复制测试信号以提供所述多个复制的测试信号之中的相应的复制的测试信号;

第一中继器,被配置为:响应于第一开关控制信号,通过第一布线将相应的复制的测试信号提供给相应的被测试装置的组;

第二中继器,被配置为:响应于第二开关控制信号,通过第二布线向自动测试设备提供来自相应的被测试装置的组的所述多个测试结果信号中的相应的测试结果信号和所述多个状态信号中的相应的状态信号,

其中,同步信号生成器通过第三布线接收相应的状态信号。

6.根据权利要求5所述的测试接口板,还包括:

开关信号生成器,被配置为:响应于来自自动测试设备的控制信号,生成第一开关控制信号和第二开关控制信号。

7.根据权利要求6所述的测试接口板,其中,开关信号生成器被配置为:将第一开关控制信号同时提供给所述一个或多个中继电路,并且被配置为将第二开关控制信号同时提供给所述一个或多个中继电路。

8.根据权利要求6所述的测试接口板,其中,开关信号生成器还被配置为:基于时序同步信号生成第一开关控制信号和第二开关控制信号。

9.一种测试系统,包括:

自动测试设备,被配置为生成测试信号;

测试接口板,被配置为接收测试信号,

其中,测试接口板被配置为:

复制测试信号,并将多个复制的测试信号分别施加到多个被测试装置,其中,所述多个被测试装置被划分为多个组;

响应于所述多个复制的测试信号,向自动测试设备提供从所述多个被测试装置接收的多个测试结果信号;

从所述多个被测试装置接收多个状态信号,并将时序同步信号提供给自动测试设备,其中,所述多个状态信号中的每个状态信号指示所述多个被测试装置中的一个被测试装置中的测试操作的完成,测试操作与测试信号相关联,并且当所有的所述多个状态信号指示测试操作的完成时,时序同步信号被激活。

10.根据权利要求9所述的测试系统,其中,测试接口板包括:

多个中继电路,被配置为:将自动测试设备连接到所述多个组;

同步信号生成器,被配置为:接收所述多个状态信号以基于所述多个状态信号的逻辑电平激活时序同步信号,并将时序同步信号提供给自动测试设备。

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