[发明专利]晶体阵列、探测器、医疗检测设备及晶体阵列的制造方法在审
| 申请号： | 201910349456.1 | 申请日： | 2019-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN110007332A | 公开（公告）日： | 2019-07-12 |
| 发明（设计）人： | 李新颖;王希;赵健;徐保伟;梁国栋 | 申请（专利权）人： | 东软医疗系统股份有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/202 | 分类号： | G01T1/202;A61B6/03 |
| 代理公司： | 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 | 代理人： | 林祥 |
| 地址： | 110167 辽宁*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本申请提供一种晶体阵列、探测器、医疗检测设备及晶体阵列的制造方法，所述晶体阵列包括呈阵列排布的多个晶体，每个所述晶体具有入光面、出光面及连接入光面和出光面的连接面，相邻的两个所述晶体中的至少一个的连接面包括粗糙面及连接粗糙面的光滑面，所述粗糙面与光滑面沿所述晶体的长度方向排布。本申请中，晶体的粗糙面可保证相邻的晶体之间存在空气，使两个晶体之间通过空气耦合，增大晶体阵列的探测区域，同时，保证晶体的光滑面部分与相邻的晶体之间具有一定间距，通过设置不同的晶体表面处理，改善光子的传输路径，使位置图谱中的晶体易于区分，有效降低位置计数的错误比例。 | ||
| 搜索关键词： | 晶体阵列 粗糙面 光滑面 晶体的 医疗检测设备 连接面 探测器 长度方向排布 晶体表面处理 传输路径 降低位置 空气耦合 探测区域 阵列排布 光面 出光面 入光面 光子 申请 粗糙 图谱 制造 保证 | ||
【主权项】：
1.一种晶体阵列，用于医疗检测设备的探测器，其特征在于，所述晶体阵列包括呈阵列排布的多个晶体，每个所述晶体具有入光面、出光面及连接所述入光面和出光面的连接面，相邻的两个所述晶体中的至少一个的连接面包括粗糙面及连接粗糙面的光滑面，所述粗糙面与光滑面沿所述晶体的长度方向排布。
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