[发明专利]可降低噪声的质谱装置及方法有效
| 申请号： | 201910339980.0 | 申请日： | 2019-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN110196274B | 公开（公告）日： | 2022-02-08 |
| 发明（设计）人： | 蒋公羽;肖育;姜健;齐晓军;姚如娇;丁正知 | 申请（专利权）人： | 上海裕达实业有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62;G06K9/00;H01J49/26 |
| 代理公司： | 上海段和段律师事务所 31334 | 代理人： | 李佳俊;郭国中 |
| 地址： | 200245 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种可降低噪声的质谱装置和方法，离子源设置在滤质型质量分析器的入射端，离子存储装置设置在滤质型质量分析器的出射端，离子检测器设置在离子存储装置的出射端。采用阶段性采样、储存与分析的方式代替传统的连续进样方式，避开绝大多数的噪声。通过控制采样、储存和出射分析的时间比例，实现降低噪声的目的。同时，利用单粒子噪声时间特性和储存弹出特性的信号变化规律不同，可通过小波变换或其他谱分析算法提出单粒子效应对应的信号分量，并在原有谱图信号中予以去除。本发明结构简单，实现方便，仅需对分析过程进行一定的时序控制，即可实现有效降低单粒子噪声的目的，拓展了质谱技术在载人航天和深空探测领域的应用。 | ||
| 搜索关键词： | 降低 噪声 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种可降低噪声的质谱装置，其特征在于，包括离子源、滤质型质量分析器、离子存储装置和离子检测器；离子源设置在滤质型质量分析器的入射端，离子存储装置设置在滤质型质量分析器的出射端，离子检测器设置在离子存储装置的出射端。
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