[发明专利]可降低噪声的质谱装置及方法

权利要求书

1.一种可降低噪声的质谱方法，其特征在于，离子源产生离子，离子通过滤质型质量分析器进入离子存储装置；

离子在离子存储装置中经过设定时间的富集，在第一时刻全部出射，打入离子检测器被检测；

记离子通过滤质型质量分析器的时间为通过时间t₁，记离子在离子存储装置中富集的时间为驻留时间t₂，弹出时间为检测时间t₃，则t₁、t₂和t₃之间存在设定比例关系；

基于检测时间t₃设定采集时间区间（t₃-t₄, t₃ +⊿t），在采集时间区间内采集原始离子信号，所述采集时间区间为离子检测器弹出时间t3的前后一段时间区间；其中t₄是时间拓展半宽，取值为单粒子事件所产生信号的平均特征峰宽的3倍以上，⊿t取值为t₄的0.5到10倍；

所述设定比例关系是：

100t₂/t₁10000；或者

t₃t₁且t₂/t₃100。

2.根据权利要求1所述的可降低噪声的质谱方法，其特征在于，采集原始离子信号后，采用小波变换，通过峰型函数内积匹配或神经网络匹配中的至少一种识别出单粒子事件所产生信号，得到单粒子事件信号；

将采集得到的原始离子信号中扣除单粒子事件信号后进行输出。

3.根据权利要求1至2中任一项所述的可降低噪声的质谱方法，其特征在于，使用了一种可降低噪声的质谱装置，包括离子源、滤质型质量分析器、离子存储装置和离子检测器；

离子源设置在滤质型质量分析器的入射端，离子存储装置设置在滤质型质量分析器的出射端，离子检测器设置在离子存储装置的出射端。

4.根据权利要求3所述的可降低噪声的质谱方法，其特征在于，所述离子源的出射轴线与滤质型质量分析器的入射轴线呈第一偏差角度，所述第一偏差角度属于[35⁰，85⁰]、(85⁰，95⁰)、[95⁰，150⁰]中的任一项。

5.根据权利要求3所述的可降低噪声的质谱方法，其特征在于，所述滤质型质量分析器的出射轴线与离子存储装置的入射轴线呈第二偏差角度，所述第二偏差角度属于[35⁰，85⁰]、(85⁰，95⁰)、[95⁰，150⁰]中的任一项。

6.根据权利要求3所述的可降低噪声的质谱方法，其特征在于，所述滤质型质量分析器的出射轴线与离子存储装置的出射轴线呈第三偏差角度，所述第三偏差角度属于[35⁰，85⁰]、(85⁰，95⁰)、[95⁰，150⁰]中的任一项。

7.根据权利要求3所述的可降低噪声的质谱方法，其特征在于，所述离子存储装置至少包括一个直线端，且至少包括一个弯曲端。

8.根据权利要求3所述的可降低噪声的质谱方法，其特征在于，所述离子源的出射轴线及其延长线上或滤质型质量分析器的出射轴线及其延长线上设置有阻挡离子光学结构本体材料，所述阻挡离子光学结构本体材料包括重金属材料或者中子吸收核素。