[发明专利]一种光学测试设备有效
申请号: | 201910319392.0 | 申请日: | 2019-04-19 |
公开(公告)号: | CN110132544B | 公开(公告)日: | 2022-03-29 |
发明(设计)人: | 陈醒身;许星;黄源浩 | 申请(专利权)人: | 奥比中光科技集团股份有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人: | 江欣 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区粤*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明适用于光学测试技术领域,提供了一种光学测试设备,包括:投影屏;待测投影模组,包括光源以及衍射光学元件,光源用于发射图案化光束,衍射光学元件用于接收图案化光束并投影出结构光图案;相机,用于采集结构光图案;偏转角调整元件,用于调整衍射光学元件的偏转角;以及控制器,分别与待测投影模组、相机和偏转角调整元件连接,用于接收并处理结构光图案,并判断结构光图案的偏转角度是否在预设范围内,当结构光图案的偏转角不在预设范围之内时,控制器还用于控制偏转角调整元件,以对衍射光学元件的偏转角度进行调整,从而有效地解决了由于衍射光学元件的偏转造成的结构光图案的偏转,避免了后续采集的结构光图案中深度值缺失的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 光学 测试 设备 | ||
【主权项】:
1.一种光学测试设备,其特征在于,包括:投影屏;待测投影模组,包括光源以及衍射光学元件,所述光源用于发射图案化光束,所述衍射光学元件用于接收所述图案化光束并投影出结构光图案;相机,用于采集所述结构光图案;偏转角调整元件,用于调整所述衍射光学元件的偏转角;以及控制器,分别与所述待测投影模组、所述相机和所述偏转角调整元件连接,用于接收和处理所述结构光图案,并根据处理结果判断所述结构光图案的偏转角是否在预设范围之内,当所述结构光图案的偏转角不在所述预设范围之内时,所述控制器还用于控制所述偏转角调整元件,以调整所述衍射光学元件的偏转角。
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