[发明专利]测量滤波特性的装置和系统有效
| 申请号： | 201910299740.2 | 申请日： | 2019-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN111835438B | 公开（公告）日： | 2022-08-23 |
| 发明（设计）人： | 叶彤;陶振宁;宿晓飞 | 申请（专利权）人： | 富士通株式会社 |
| 主分类号： | H04B17/15 | 分类号： | H04B17/15 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 张祥意;陶海萍 |
| 地址： | 日本神奈*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种测量滤波特性的方法、装置和系统，其中，该装置包括：信号发射单元，其用于发射测量信号；该测量信号包括至少两个不同的频率；处理单元，其用于根据接收信号中奇次阶交调分量的幅度，或者，根据接收信号中基频和奇次阶交调分量的幅度确定非线性器件中后置滤波器的滤波特性，其中，该测量信号经过该非线性器件后得到该接收信号。通过本发明实施例，不需要了解非线性器件内部的结构，通过改变测量信号和分析接收信号中奇次阶交调分量的幅度即可以得到非线性器件的后置滤波器的滤波特性，方法简单，成本较低。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 滤波 特性 装置 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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