[发明专利]测量滤波特性的装置和系统

说明书

本发明实施例提供一种测量滤波特性的方法、装置和系统，其中，该装置包括：信号发射单元，其用于发射测量信号；该测量信号包括至少两个不同的频率；处理单元，其用于根据接收信号中奇次阶交调分量的幅度，或者，根据接收信号中基频和奇次阶交调分量的幅度确定非线性器件中后置滤波器的滤波特性，其中，该测量信号经过该非线性器件后得到该接收信号。通过本发明实施例，不需要了解非线性器件内部的结构，通过改变测量信号和分析接收信号中奇次阶交调分量的幅度即可以得到非线性器件的后置滤波器的滤波特性，方法简单，成本较低。

技术领域

本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种测量滤波特性的方法、装置和系统。

背景技术

在射频微波领域，通信领域，以及光通信领域，为了实现更大带宽，更多频段的信号传输，越来越多的高频器件投入了应用，比如宽带射频放大器，宽带相干光接收机(带有跨阻放大器)等。然而，高频器件往往带有一些性能的不理想，例如非线性，而这种非线性效应会对器件的应用产生劣化影响。因此，非线性滤波特性的测量是尤为重要的，其可以为器件的优化设计、性能预测、非线性效应的补偿等提供参考。

应该注意，上面对技术背景的介绍只是为了方便对本发明的技术方案进行清楚、完整的说明，并方便本领域技术人员的理解而阐述的。不能仅仅因为这些方案在本发明的背景技术部分进行了阐述而认为上述技术方案为本领域技术人员所公知。

发明内容

目前，研究人员提出了很多方法建立模型来描述器件的非线性，例如，该模型可以抽象为：输入器件的信号依次经过前置线性滤波器，非线性模块以及后置滤波器，但该模型中所有滤波器和非线性模块的参数都是未知的。

本发明实施例提出了一种测量滤波特性的方法、装置和系统，解决现有技术中存在的问题，不需要了解非线性器件内部的结构，通过改变测量信号和分析接收信号中奇次阶交调分量的幅度即可以得到非线性器件的后置滤波器的滤波特性，方法简单，成本较低。

根据本发明实施例的第一个方面，提供了一种测量滤波特性的装置，其中，该装置包括：

信号发射单元，其用于发射测量信号；该测量信号包括至少两个不同的频率；

处理单元，其用于根据接收信号中奇次阶交调分量的幅度，或者，根据接收信号中基频和奇次阶交调分量的幅度确定非线性器件中后置滤波器的滤波特性，其中，该测量信号经过该非线性器件后得到该接收信号。

根据本发明实施例的第二个方面，提供了一种测量滤波特性的方法，其中，该方法包括：

发射测量信号；该测量信号包括至少两个不同的频率；

根据接收信号中奇次阶交调分量的幅度，或者，根据接收信号中基频和奇次阶交调分量的幅度确定非线性器件中后置滤波器的滤波特性，其中，该测量信号经过该非线性器件后得到该接收信号。

根据本发明实施例的第三个方面，提供了一种测量滤波特性的系统，其中，该系统包括非线性器件以及前述第一方面的测量滤波特性的装置。

本发明实施例的有益效果在于，不需要了解非线性器件内部的结构，通过改变测量信号和分析接收信号中奇次阶交调分量的幅度即可以得到非线性器件的后置滤波器的滤波特性，方法简单，成本较低。

参照后文的说明和附图，详细公开了本发明的特定实施方式，指明了本发明的原理可以被采用的方式。应该理解，本发明的实施方式在范围上并不因而受到限制。在所附权利要求的精神和条款的范围内，本发明的实施方式包括许多改变、修改和等同。

针对一种实施方式描述和/或示出的特征可以以相同或类似的方式在一个或更多个其它实施方式中使用，与其它实施方式中的特征相组合，或替代其它实施方式中的特征。

应该强调，术语“包括/包含”在本文使用时指特征、整件、步骤或组件的存在，但并不排除一个或更多个其它特征、整件、步骤或组件的存在或附加。