[发明专利]一维相扫天线阵列在审
| 申请号： | 201910267936.3 | 申请日： | 2019-04-03 |
| 公开（公告）号： | CN110034383A | 公开（公告）日： | 2019-07-19 |
| 发明（设计）人： | 彭树生;王婧雯;吴礼;刘钧 | 申请（专利权）人： | 南京理工大学 |
| 主分类号： | H01Q1/32 | 分类号： | H01Q1/32;H01Q1/38;H01Q1/50;H01Q21/00 |
| 代理公司： | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人： | 马鲁晋 |
| 地址： | 210094 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种一维相扫天线阵列，包括介质基板以及平行等间距设置在介质基板上的N个辐射单元，所述辐射单元单独馈电，通过改变每个辐射单元的激励幅度与相位形成低副瓣波束扫描，所述辐射单元为左右对称的串联微带线阵本发明将E面作为俯仰面在辐射单元内部进行低副瓣处理，在H面上通过控制每个辐射单元的激励幅度与相位对水平面进行低副瓣扫描。最后实现了在±50°的波束扫描范围内，增益不低于18dB，副瓣电平低于‑15dB。 | ||
| 搜索关键词： | 辐射单元 低副瓣 波束扫描 介质基板 天线阵列 等间距设置 副瓣电平 左右对称 俯仰面 微带线 馈电 串联 平行 扫描 | ||
【主权项】：
1.一种一维相扫天线阵列，其特征在于，包括介质基板以及平行等间距设置在介质基板上的N个辐射单元，所述辐射单元单独馈电，通过改变每个辐射单元的激励幅度与相位形成低副瓣波束扫描，所述辐射单元为左右对称的串联微带线阵。
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