[发明专利]一维相扫天线阵列在审
申请号: | 201910267936.3 | 申请日: | 2019-04-03 |
公开(公告)号: | CN110034383A | 公开(公告)日: | 2019-07-19 |
发明(设计)人: | 彭树生;王婧雯;吴礼;刘钧 | 申请(专利权)人: | 南京理工大学 |
主分类号: | H01Q1/32 | 分类号: | H01Q1/32;H01Q1/38;H01Q1/50;H01Q21/00 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人: | 马鲁晋 |
地址: | 210094 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 辐射单元 低副瓣 波束扫描 介质基板 天线阵列 等间距设置 副瓣电平 左右对称 俯仰面 微带线 馈电 串联 平行 扫描 | ||
1.一种一维相扫天线阵列,其特征在于,包括介质基板以及平行等间距设置在介质基板上的N个辐射单元,所述辐射单元单独馈电,通过改变每个辐射单元的激励幅度与相位形成低副瓣波束扫描,所述辐射单元为左右对称的串联微带线阵。
2.根据权利要求1所述的一维相扫天线阵列,其特征在于,相邻两个辐射单元的间距为0.5个波长。
3.根据权利要求1所述的一维相扫天线阵列,其特征在于,所述串联微带线阵包括通过微带线串联的4个辐射贴片。
4.根据权利要求3所述的一维相扫天线阵列,其特征在于,所述辐射贴片的宽度分别为W1=1.4mm,W2=0.81mm,长度分别为L1=1.06mm,L2=1.08mm,相邻两个辐射贴片的间距分别为:d1=1.14mm,d2=1.19mm。
5.根据权利要求1所述的一维相扫天线阵列,其特征在于,所述辐射单元通过等长微带线馈电。
6.根据权利要求1所述的一维相扫天线阵列,其特征在于,所述介质基板介电常数为3.04,厚度为0.127mm,材料为RO3003。
7.根据权利要求1所述的一维相扫天线阵列,其特征在于,N取12。
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