[发明专利]一维相扫天线阵列在审

专利信息
申请号: 201910267936.3 申请日: 2019-04-03
公开(公告)号: CN110034383A 公开(公告)日: 2019-07-19
发明(设计)人: 彭树生;王婧雯;吴礼;刘钧 申请(专利权)人: 南京理工大学
主分类号: H01Q1/32 分类号: H01Q1/32;H01Q1/38;H01Q1/50;H01Q21/00
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 马鲁晋
地址: 210094 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 辐射单元 低副瓣 波束扫描 介质基板 天线阵列 等间距设置 副瓣电平 左右对称 俯仰面 微带线 馈电 串联 平行 扫描
【权利要求书】:

1.一种一维相扫天线阵列,其特征在于,包括介质基板以及平行等间距设置在介质基板上的N个辐射单元,所述辐射单元单独馈电,通过改变每个辐射单元的激励幅度与相位形成低副瓣波束扫描,所述辐射单元为左右对称的串联微带线阵。

2.根据权利要求1所述的一维相扫天线阵列,其特征在于,相邻两个辐射单元的间距为0.5个波长。

3.根据权利要求1所述的一维相扫天线阵列,其特征在于,所述串联微带线阵包括通过微带线串联的4个辐射贴片。

4.根据权利要求3所述的一维相扫天线阵列,其特征在于,所述辐射贴片的宽度分别为W1=1.4mm,W2=0.81mm,长度分别为L1=1.06mm,L2=1.08mm,相邻两个辐射贴片的间距分别为:d1=1.14mm,d2=1.19mm。

5.根据权利要求1所述的一维相扫天线阵列,其特征在于,所述辐射单元通过等长微带线馈电。

6.根据权利要求1所述的一维相扫天线阵列,其特征在于,所述介质基板介电常数为3.04,厚度为0.127mm,材料为RO3003。

7.根据权利要求1所述的一维相扫天线阵列,其特征在于,N取12。

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