[发明专利]一种基于失效物理的器件级产品多应力强化试验剖面确定方法在审

专利信息
申请号: 201910258258.4 申请日: 2019-04-01
公开(公告)号: CN110134988A 公开(公告)日: 2019-08-16
发明(设计)人: 万博;肖东;付桂翠;张钟庆 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种基于失效物理的器件级产品多应力强化试验剖面确定方法,包括以下步骤:步骤1:结合失效案例采用元器件FMEA的方法确定产品薄弱环节,并结合专家打分法确定应力类型;步骤2:参考强化试验规范,确定器件级产品各试验应力剖面的参数及其取值水平;步骤3:利用正交试验方法,确定器件级产品强化试验应力剖面的多参数、多水平正交试验表;步骤4:利用失效物理方法,计算器件级产品不同组试验剖面条件下的损伤率;步骤5:对比不同试验剖面条件下的损伤率,确定最优的器件级产品多应力强化试验剖面。本发明涉及一种基于失效物理的器件级产品多应力强化试验剖面确定方法,主要基于失效物理方法评价方法,进行试验类型的选择和试验剖面参数量值的确定,有效发现产品的薄弱环节,属于元器件可靠性试验技术领域。
搜索关键词: 试验 应力强化 薄弱环节 强化试验 损伤率 元器件可靠性 正交试验表 计算器件 剖面参数 试验技术 试验类型 应力类型 正交试验 多参数 元器件 参考 发现
【主权项】:
1.一种基于失效物理的器件级产品多应力强化试验剖面确定方法,其特征在于:失效物理方法及模糊等级评价方法,进行试验类型的选择和试验剖面参数量值的确定。该方法的具体步骤如下:步骤一:结合失效案例采用元器件FMEA的方法确定产品薄弱环节,并结合专家打分法确定应力类型;步骤二:参考强化试验规范,确定器件级产品各试验应力剖面的参数及其取值水平;步骤三:利用正交试验方法,确定器件级产品强化试验应力剖面的多参数、多水平正交试验表;步骤四:利用失效物理方法,计算器件级产品不同组试验剖面条件下的损伤率;步骤五:对比不同试验剖面条件下的损伤率,确定最优的器件级产品多应力强化试验剖面。
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