[发明专利]一种基于失效物理的器件级产品多应力强化试验剖面确定方法

权利要求书

1.一种基于失效物理的器件级产品多应力强化试验剖面确定方法，其特征在于：失效物理方法及模糊等级评价方法，进行试验类型的选择和试验剖面参数量值的确定。该方法的具体步骤如下：

步骤一：结合失效案例采用元器件FMEA的方法确定产品薄弱环节，并结合专家打分法确定应力类型；

步骤二：参考强化试验规范，确定器件级产品各试验应力剖面的参数及其取值水平；

步骤三：利用正交试验方法，确定器件级产品强化试验应力剖面的多参数、多水平正交试验表；

步骤四：利用失效物理方法，计算器件级产品不同组试验剖面条件下的损伤率；

步骤五：对比不同试验剖面条件下的损伤率，确定最优的器件级产品多应力强化试验剖面。

2.根据权利要求1所述依据GJB/Z-1391-2006故障模式、影响及危害性分析指南,运用FMEA分析技术对元器件失效模式和薄弱环节进行分析，并结合专家打分法确定器件级产品试验应力类型。采用工艺FMEA分析技术进行分析，确定器件级产品的严酷度类别及定义。对不同应力导致元器件失效的严酷度的等级进行分类、评分。根据“专家打分法”确定应力类型，专家根据故障发生概率进行评分，针对元器件失效机理的严酷度进行打分，量化评价结果。基于FMEA分析结果计算出应力或应力组合顺序，描述应力或应力组合的敏感性程度。

3.根据权利要求1所述的参考强化试验规范，确定器件级产品各试验应力剖面的参数及其取值水平，试验应力剖面的参数是指各试验应力下的试验要素，这些剖面参数的设置取值即为试验所确定应力施加量值。本方法在于通过仿真的方法分析各剖面参数不同量级的缺陷激发效率，据此进行试验量值的确定。

4.根据权利要求1所述的利用正交试验方法，利用正交试验的方法针对多剖面参数多水平取值进行分析，具有实验次数少，分析简便的优点。正交试验特点是每一行每一列不同水平试验次数相同，其中不同试验编号，一般选取最少次数，不同剖面参数，-1代表低水平，1代表高水平取值。根据正交试验特点利用仿真评价的方法可以快速实现对多因素多水平取值的分析优化。

5.根据权利要求1所述的利用失效物理方法，计算器件级产品不同组试验剖面条件下的损伤率，为体现不同因素对缺陷激发能力的影响，通过进行失效物理仿真研究，依据仿真结果对试验方案进行评价，确定试验的关键因素以及优化的强化试剖面以开展试验。

6.根据权利要求1所述的对比不同试验剖面条件下的损伤率，确定最优的器件级产品多应力强化试验剖面，在对试验剖面的分析中，累积损伤比越高代表着该剖面下对器件的缺陷激发能力更强，即为望大特性，希望其累积损伤比越大越好。对试验结果的分析有两种方法：一是直观分析法，二是极差分析法。依次制定基于直观分析法的最优剖面和基于极差分析法的试验关键因素最优剖面，针对这两个优化的剖面有针对性的开展强化试验的研究。进而确定最优的强化试验剖面，制定元器件在温度、振动、湿度、电等常规应力及其他应力组合下的强化试验方案。